[发明专利]应用裸光纤光栅测量型材与基体之间的粘结性能的方法在审

专利信息
申请号: 201710091071.0 申请日: 2017-02-20
公开(公告)号: CN106990039A 公开(公告)日: 2017-07-28
发明(设计)人: 周长东;阿斯哈 申请(专利权)人: 北京交通大学
主分类号: G01N19/04 分类号: G01N19/04
代理公司: 北京市商泰律师事务所11255 代理人: 黄晓军
地址: 100044 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种应用裸光纤光栅测量型材与基体之间的粘结性能的方法。在型材的内部或者表面选定测量点;根据所有的测量点设定光纤布置路径,在所述光纤布置路径上布设光纤,在所述光纤上设置裸光纤光栅,所述裸光纤光栅与所述测量点对应;将所述型材与待测试的基体进行粘结,形成连接体,对所述连接体进行粘结滑移试验,通过所述裸光纤光栅获取所述粘结滑移试验过程中所述连接体的温度和应变变化。本发明的方法采用光纤光栅传感器较传统的应变片灵敏度高、精度高、布置灵活,可大量应用于试验研究中。该方法对钢筋受力性能影响较小,更加适用,其操作方法有了较大简化,具有适用性且精度可以得到保证。
搜索关键词: 应用 光纤 光栅 测量 基体 之间 粘结 性能 方法
【主权项】:
一种应用裸光纤光栅测量型材与基体之间的粘结性能的方法,其特征在于,包括:在型材的内部或者表面选定测量点;根据所有的测量点设定光纤布置路径,在所述光纤布置路径上布设光纤,在所述光纤上设置裸光纤光栅,所述裸光纤光栅与所述测量点对应;将所述型材与待测试的基体进行粘结,形成连接体,对所述连接体进行粘结滑移试验,通过所述裸光纤光栅测量所述粘结滑移试验过程中所述型材的温度和应变变化。
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