[发明专利]用于检测透明量筒中的颗粒的检查系统和方法有效
| 申请号： | 201710102686.9 | 申请日： | 2017-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN107121443B | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | A·格朗维耶曼 | 申请（专利权）人： | 贝克顿迪金森法国公司 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 赵培训 |
| 地址： | 法国勒蓬*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于检测具有纵轴线和直径的透明量筒中的颗粒的检查系统，该系统包括：‑光源，其能照射透明量筒，‑遮挡件，其能挡住来自于光源的光线的至少一部分；光源和遮挡件被设置成使得在透明量筒定位在系统中以进行检查时，光源、遮挡件和透明量筒沿垂直于所述透明量筒的纵轴线的检查轴线大致对准，遮挡件置于光源和透明量筒之间，以防止照射透明量筒的第一部分，同时可让透明量筒的第二部分被照射，其中，所述第一部分的宽度小于透明量筒的直径；遮挡件被配置成与存在于透明量筒的第一部分中，并被由透明量筒的第二部分折射的光线照射的颗粒形成对照。本发明还涉及一种用于检查具有纵轴线和直径的透明量筒以检测颗粒的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 透明 量筒 中的 颗粒 检查 系统 方法 | ||
【主权项】：
用于检测透明量筒(10)中的颗粒的检查系统(100,200,300,400)，所述透明量筒(10)具有纵轴线(A)和直径(D)，所述检查系统包括：‑光源(120,220,320,420)，其能照射透明量筒(10)，‑遮挡件(110,210,310,410)，其能挡住来自于光源的光线的至少一部分；将所述光源(120,220,320,420)和所述遮挡件(110,210,310,410)设置成，使得在将所述透明量筒(10)定位在该检查系统中以进行检查时，所述光源、遮挡件和透明量筒沿垂直于所述透明量筒的所述纵轴线(A)的检查轴线(B)大致对准；所述遮挡件(110,210,310,410)置于所述光源(120,220,320,420)和所述透明量筒(10)之间，以防止照射所述透明量筒的第一部分，同时使得所述透明量筒的第二部分被照射，其中，所述第一部分的宽度小于所述透明量筒的直径(D)；所述遮挡件被配置成与存在于该透明量筒的所述第一部分中并被由该透明量筒的所述第二部分折射的光线照射的颗粒形成对照。
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