[发明专利]基于相位调制的激光扫描饱和结构光照明的显微方法及装置在审

专利信息
申请号: 201710103657.4 申请日: 2017-02-24
公开(公告)号: CN107092086A 公开(公告)日: 2017-08-25
发明(设计)人: 刘旭;孙试翼;匡翠方;黄玉佳 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G02B21/00 分类号: G02B21/00;G01N21/64
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司33224 代理人: 胡红娟
地址: 310013 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开一种基于相位调制的激光扫描饱和结构光照明的显微方法,包括将准直后的照明光束转换为线偏光;在线偏光上加载第一方向的0‑π相位,并调整线偏光的偏振方向;利用偏振方向调整后的线偏光对样品进行扫描,形成激发样品产生荧光的第一激光扫描饱和结构光照明图案,并收集得到第一荧光信号;在线偏光上加载第二方向的0‑π相位,并适应调整线偏光的偏振方向;利用偏振方向调整后的线偏光对样品进行扫描,形成激发样品产生荧光的第二激光扫描饱和结构光照明图案,并收集得到第二荧光信号;对第一荧光信号和第二荧光信号进行处理,得到横向分辨率提升的超分辨图像。本发明还公开一种基于相位调制的激光扫描饱和结构光照明的显微装置。
搜索关键词: 基于 相位 调制 激光 扫描 饱和 结构 照明 显微 方法 装置
【主权项】:
一种基于相位调制的激光扫描饱和结构光照明的显微方法,其特征在于,包括步骤:1)将准直后的照明光束转换为线偏光;2)在所述的线偏光上加载第一方向的0‑π相位,并调整线偏光的偏振方向;3)利用偏振方向调整后的线偏光对样品进行扫描,形成激发样品产生荧光的第一激光扫描饱和结构光照明图案,并收集得到第一荧光信号;4)在所述的线偏光上加载第二方向的0‑π相位,并适应调整线偏光的偏振方向;5)利用偏振方向调整后的线偏光对样品进行扫描,形成激发样品产生荧光的第二激光扫描饱和结构光照明图案,并收集得到第二荧光信号;6)对所述的第一荧光信号和第二荧光信号进行处理,得到横向分辨率提升的超分辨图像。
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