[发明专利]一种测定超微滤膜孔径及孔径分布的方法有效
| 申请号： | 201710107174.1 | 申请日： | 2017-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN106823823B | 公开（公告）日： | 2019-08-09 |
| 发明（设计）人： | 郑祥;刘丽;罗鸣;程荣;尚闽 | 申请（专利权）人： | 中国人民大学 |
| 主分类号： | B01D65/10 | 分类号： | B01D65/10 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐宁;刘美丽 |
| 地址： | 100872 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测定超微滤膜孔径及孔径分布的方法，包括：1)选取基准物；2)扫描每种粒径纳米颗粒在紫外可见波长范围内的最大吸收波长，并在最大吸收波长下相应作标准曲线；3)选取单一粒径聚苯乙烯纳米颗粒配成质量浓度为C0的溶液，用超声使该粒径纳米颗粒均匀分散在水中，采用悬浮液过滤法对超微滤膜进行过滤实验，选取过滤后的溶液，测得该粒径聚苯乙烯纳米颗粒在最大吸收波长下的吸光度，并采标准曲线计算出过滤后溶液中该粒径纳米颗粒的浓度Ct，进而计算超微滤膜对该粒径聚苯乙烯纳米颗粒的截留率R；4)选用不同粒径的聚苯乙烯纳米颗粒重复步骤3)进行截留，根据测得的截留率计算该超微滤膜的膜孔直径。本发明原理简单，操作方便，能够较准确测定超微滤膜孔径及孔径分布。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 滤膜 孔径 分布 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测定超微滤膜孔径的方法，其特征在于包括以下内容：1)选取符合设定条件的聚苯乙烯纳米颗粒作为基准物，其中，将聚苯乙烯纳米颗粒采用动态光散射仪表征粒径分布和平均粒径，将粒径分布曲线为单峰且粒径分布较集中的聚苯乙烯纳米颗粒作为基准物；2)采用紫外分光光度计扫描每种粒径纳米颗粒在紫外可见波长范围内的最大吸收波长，并在最大吸收波长下相应作该粒径纳米颗粒的标准曲线；3)选取单一粒径聚苯乙烯纳米颗粒配成质量浓度为C0的溶液，用超声使该粒径纳米颗粒均匀分散在水中，采用悬浮液过滤法对超微滤膜进行过滤实验，选取过滤后的溶液，测得该粒径聚苯乙烯纳米颗粒在最大吸收波长下的吸光度，并采用该粒径聚苯乙烯纳米颗粒所对应的标准曲线计算出过滤后溶液中该粒径纳米颗粒的浓度Ct，进而计算超微滤膜对该粒径聚苯乙烯纳米颗粒的截留率R：![]()
4)选用不同粒径的聚苯乙烯纳米颗粒重复步骤3)进行截留，根据测得的截留率计算该超微滤膜的膜孔直径。
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