[发明专利]基于可见光定位技术的形变监测系统及方法有效
申请号: | 201710108052.4 | 申请日: | 2017-02-27 |
公开(公告)号: | CN106895787B | 公开(公告)日: | 2019-04-26 |
发明(设计)人: | 敖建鹏;胡文彬;文晓艳;丁福财;田欢 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人: | 王丹 |
地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供一种基于可见光定位技术的形变监测系统,包括信号控制模块、可见光发射模块、主探测器、次级探测器和信号处理模块;可见光发射模块为可见光源;信号控制模块驱动可见光源按一定的规律点亮;在待监测地有监测点,每个监测点上设有主探测器和次级探测器;主探测器包括光电传感器,次级探测器包括涂黑遮挡物和位于涂黑遮挡物上的光电二极管;信号处理模块包括信号调理模块,用于判断监测点是否有变形的微处理器。本发明利用本身照明所需要的光源加以调制,并在监测点设置相应的探测器,只需要对各监测点的输出电信号进行处理即可得出监测点是否存在变形,安装易于实施,且长期有效、成本低廉。 | ||
搜索关键词: | 基于 可见光 定位 技术 形变 监测 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于可见光定位技术的形变监测系统,其特征在于:它包括信号控制模块、可见光发射模块、主探测器、次级探测器和信号处理模块;所述的可见光发射模块为在待监测地均布的若干个可见光源;所述的信号控制模块用于驱动所述的若干个可见光源按一定的规律点亮,且同一时间只有一个可见光源点亮,每个可见光源均点亮一遍为一个周期;在待监测地分布有若干个监测点,每个监测点上均设有一个所述的主探测器和一个所述的次级探测器;所述的主探测器包括光电传感器,所述的次级探测器包括涂黑遮挡物和位于涂黑遮挡物上的光电二极管;所述的信号处理模块包括用于将光电传感器和光电二极管的电信号进行放大和模数转换的信号调理模块,用于根据模数转换后的电信号判断监测点是否有变形、监测点形变的方位及形变程度的微处理器。
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