[发明专利]一种用于三维轮廓测量的轮廓测量方法

摘要

本发明公开了一种用于三维轮廓测量的轮廓测量方法，涉及三维轮廓检测技术领域。所述轮廓测量方法包括以下步骤:通过激光反射方式记录所述投影屏幕处相应的每个投影点的二维坐标信息；选定运动平台坐标系，根据标准待测物体校准的投影点与相应的扫描点的关系式，将所述投影点的二维坐标信息变换至扫描点在运动平台坐标系内的三维坐标信息；通过拟合所述各扫描点的三维坐标信息的数据，获得所述待测物体的三维轮廓信息；基于所述待测物体的三维轮廓信息显示所述待测物体的三维轮廓和表面状态的图像。克服了通常激光线扫技术难以测量透明物体的主要缺陷，可以有效地对透明物体进行扫描得到有效而稳定的扫描数据，从而测量出物体的三维轮廓数据。

主权项

1.一种用于三维轮廓测量的轮廓测量方法，其特征在于，包括以下步骤:S1，将待测物体放置于测量平台上，对所述待测物体的表面的扫描点依次进行激光扫描，所述激光反射至投影屏幕处，记录所述投影屏幕处相应的每个投影点的二维坐标信息；S2，选定运动平台坐标系，根据标准待测物体校准的投影点与相应的扫描点的关系式，将所述投影点的二维坐标信息变换至扫描点在运动平台坐标系内的三维坐标信息；S3，通过拟合所述各扫描点的三维坐标信息的数据，获得所述待测物体的三维轮廓信息；S4，基于所述待测物体的三维轮廓信息显示所述待测物体的三维轮廓和表面状态的图像；其中，所述扫描点的数据集合为点云；所述投影点的二维坐标为Di(X，Y)，X方向为激光线的方向，Y方向为所述激光扫描方向；所述相应的扫描点在运动平台坐标系内的三维坐标为P(Xi，Yi，Zi)所述投影点与相应的扫描点的关系式为：Di.X＝P.Xi+(X‑W/2)*XPitch；Di.Y＝P.Yi+Y*YPitch；其中，W为所述激光线的宽度，XPitch为激光线方向的间距，YPitch为激光扫描方向的间距，Di.X为所述投影点在X方向的坐标值，P.Xi为相应的扫描点在运动平台坐标系内X方向的坐标值，Di.Y为所述投影点在Y方向的坐标值，P.Yi为相应的扫描点在运动平台坐标系内Y方向的坐标值，P.Zi通过激光扫描所述待测物体时由相机记录获取。