[发明专利]基于实时跟踪X射线焦点位置的动态校准方法

摘要

本发明公开一种基于实时跟踪X射线焦点位置的动态校准方法，包括：于第一位置与第二位置之间，动态整体移动准直器的两个挡片，两挡片开缝的中心位置设为参考位置，从第一位置到第二位置，两个挡片经过若干调整位置，于每个调整位置，获取相应的调整参数，该调整参数包括边缘层光子响应特征比值、相对参考位置的偏移量、图像信息，该边缘层光子响应特征比值为探测器的两边缘侧通道分别接收的光子响应特征信号累加的比值，移动结束后，根据若干调整参数对应的图像信息，确定目标调整参数，确定目标位置，动态整体移动两个挡片至该目标位置。本发明无需调整两个挡片的相对位置，即可实现焦点位置的动态校准，提高了CT成像质量，避免额外增加对患者的辐射剂量。

主权项

1.基于实时跟踪X射线焦点位置的动态校准方法，其特征在于，包括：于第一位置与第二位置之间，动态整体移动准直器的两个挡片，两挡片开缝的中心位置设为参考位置，从第一位置到第二位置，两个挡片经过若干调整位置，于每个调整位置，获取相应的调整参数，该调整参数包括边缘层光子响应特征比值、相对参考位置的偏移量、图像信息，该边缘层光子响应特征比值为探测器的两边缘侧通道分别接收的光子响应特征信号累加的比值，移动结束后，根据若干调整参数对应的若干图像信息，确定目标调整参数，确定目标位置，动态整体移动两个挡片至该目标位置，其中：根据若干调整参数对应的图像信息，选取出成像质量最高的图像信息，依该成像质量最高的图像信息，确定相应的相对参考位置的偏移量，作为目标位置；确定所述相对参考位置的偏移量的方法是：整体移动两个挡片，使得所述参考位置与预设的焦点位置相对应，计算此时的边缘层光子响应特征比值，作为预设的参考值；根据公式(1)计算比例因子，其中，ratio1为两个挡片位于第一调整位置location1时的边缘层光子响应特征比值，即第一调整位置下，多层CT的第一边缘层光子响应特征信号与最后一个边缘层光子响应特征信号的比值，ratio2为两个挡片位于第二调整位置location2时的边缘层光子响应特征比值，即第二调整位置下，多层CT的第一边缘层光子响应特征信号与最后一个边缘层光子响应特征信号的比值；将某一调整位置时的边缘层光子响应特征比值减去该预设的参考值，然后乘以该比例因子，得到所述相对参考位置的偏移量。