[发明专利]一种基于Laws纹理滤波的荧光磁粉缺陷自动识别方法在审
| 申请号： | 201710117533.1 | 申请日： | 2017-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN106934801A | 公开（公告）日： | 2017-07-07 |
| 发明（设计）人： | 刘桂华;牛乾;张华;康含玉;王玉玫;吴倩 | 申请（专利权）人： | 西南科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G01N21/64;G01N21/91 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 621010 四川省德阳*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明使用了一种基于Laws纹理滤波的荧光磁粉缺陷自动识别方法，可用于铁磁性器件表面以及近表面的裂纹缺陷检测，同时解决了在实际图像采集过程中金属表面反光的问题。具体实现通过模板计算局部纹理能量信息可获得灰度变化的信息得到特征图像,对得到的7通道特征图像进行滤波后将其放入高斯混合模型中进行分类识别，分类后得到正常区域，对于待检测的磁痕图像使用区域相减得到缺陷区域这时可对其缺陷进行像素统计，若缺陷区域像素数高于某一阈值则认为该工件为不良品。与目前使用的人工识别磁痕缺陷相比，提高了检测效率。而且减少了荧光磁粉检测对人体尤其是对人眼带来的伤害。同时检测设备的自动化程度大大提高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 laws 纹理 滤波 荧光 缺陷 自动识别 方法 | ||
【主权项】：
一种基于Laws纹理滤波的荧光磁粉缺陷自动识别方法，其特征在于:包含如下步骤：本发明包含如下步骤：（1）图像的预处理；（2）提取并合成特征图像；（3）特征图像放入分类器进行训练；（4）识别带有裂纹缺陷的图像。
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