[发明专利]一种磁头芯片智能测试系统

摘要

本发明的一种磁头芯片智能测试系统，中央处理器与外部的PC上位机相连，中央处理器同时连接测试平台，测试平台上包括电路机构和机械机构，电路机构包括电源模块，电源模块连接中央处理器，机械机构包括机械臂、机械转盘和机械下压块，电源模块一端连中央处理器，另一端输出电源至机械转盘，机械臂、机械转盘和机械下压块分别与中央处理器相连，机械转盘上设有测试座，测试座中设有IC卡槽，IC卡槽底部设有探针；测试平台上设有光敏传感器、距离传感器以及扬声器、红绿双色指示灯。本发明具有提高芯片测试过程的工作效率和可靠性的积极效果。

主权项

一种磁头芯片智能测试系统，具有中央处理器，中央处理器与外部的PC上位机相连，其特征在于，所述的中央处理器同时连接测试平台，测试平台上包括电路机构和机械机构，电路机构包括电源模块，电源模块连接中央处理器，机械机构包括机械臂、机械转盘和机械下压块，电源模块一端连接中央处理器，另一端输出电源至机械转盘，同时，机械臂、机械转盘和机械下压块分别与中央处理器相连，所述机械臂又包括第一机械臂、第二机械臂、第三机械臂、第四机械臂，其中，机械转盘上设有三个测试座，测试座中设置有IC卡槽，IC卡槽底部设有探针，测试座之间两两分别形成120度的夹角，第一机械臂与其距离最近的设置于机械转盘上的一个测试座相对应，且与未测试IC装料区相配合；机械下压块与其下方设置于机械转盘上的一个测试座相对应；第二机械臂与其距离最近的设置于机械转盘上的一个测试座相对应，且与测试过的IC分类归放区相配合；磁条卡通过第三机械臂与磁条卡槽相配合；NFC射频卡通过第四机械臂与NFC磁场线圈相配合，此外，测试平台上还设有光敏传感器、距离传感器以及扬声器、红绿双色指示灯，其中，光敏传感器、距离传感器分别连接磁条卡槽、NFC磁场线圈，光敏传感器用于监控刷卡速度，距离传感器用于监控测试NFC射频卡刷卡时的高度，并分别连接中央处理器；扬声器、红绿双色指示灯分别与中央处理器相连。