[发明专利]免对正轴心的影像测量装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201710119286.9 申请日: 2017-03-02
公开(公告)号: CN108534713B 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 林明慧 申请(专利权)人: 林明慧
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25;G01B11/27
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 王正茂;丛芳
地址: 中国台湾新竹县竹东*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种免对正轴心的影像测量装置及其方法,其用以测量待测工件。免对正轴心的影像测量装置包含旋转盘,旋转盘包含旋转轴心位置,待测工件设于旋转盘上。光投影单元产生光线照射至待测工件,并于影像撷取单元上形成第一工件遮蔽阴暗区域。旋转盘及待测工件受中央控制处理单元控制而旋转一个旋转角度,令影像撷取单元上形成第二工件遮蔽阴暗区域。中央控制处理单元依据第一工件遮蔽阴暗区域与第二工件遮蔽阴暗区域运算而产生工件轴心位置。工件轴心与旋转轴心相隔轴差间距。借此,透过非接触式的影像测量方式,能在任意摆放待测工件条件下正确地估算工件轴心位置及特征尺寸,既快速便利且准确度高。
搜索关键词: 待测工件 阴暗区域 旋转盘 遮蔽 影像测量装置 工件轴心 对正 中央控制处理单元 影像撷取单元 第一工件 测量 旋转轴心位置 光投影单元 准确度 非接触式 光线照射 旋转轴心 影像测量 运算 相隔 估算 摆放 便利
【主权项】:
1.一种免对正轴心的影像测量装置,用以测量待测工件,其特征在于,所述免对正轴心的影像测量装置包含:旋转盘,包含旋转轴心位置,所述待测工件设于所述旋转盘上;光投影单元,产生光线沿照射路径行进,所述照射路径通过所述待测工件;影像撷取单元,设于所述照射路径上接收所述光线,且所述待测工件遮蔽部分所述光线,令所述影像撷取单元上形成第一工件遮蔽阴暗区域;中央控制处理单元,信号连接所述旋转盘、所述光投影单元及所述影像撷取单元,所述旋转盘及所述待测工件受所述中央控制处理单元控制而旋转一个旋转角度,令所述影像撷取单元上形成第二工件遮蔽阴暗区域,所述中央控制处理单元依据所述第一工件遮蔽阴暗区域与所述第二工件遮蔽阴暗区域运算而产生旋转前距离参数与旋转后距离参数,且所述中央控制处理单元运算所述旋转前距离参数与所述旋转后距离参数而产生工件轴心位置;以及旋转驱动件,连接所述旋转盘,所述旋转驱动件受所述中央控制处理单元控制而转动所述旋转盘,令所述旋转盘与所述待测工件同步转动;其中所述工件轴心位置与所述旋转轴心位置相隔轴差间距,所述轴差间距用以判断是否对正轴心;其中所述旋转盘的移动达一定转动次数,所述转动次数大于等于1,所述中央控制处理单元依据所述转动次数、所述第一工件遮蔽阴暗区域及所述第二工件遮蔽阴暗区域运算而产生多组平行对边的二条虚拟垂直边线,所述多组平行对边的二条虚拟垂直边线环绕连接而形成虚拟多边形,且所述中央控制处理单元依据所述虚拟多边形、所述旋转前距离参数及所述旋转后距离参数计算所述工件轴心位置。
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