[发明专利]一种光学元件表面疵病的检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201710125838.7 申请日: 2017-03-05
公开(公告)号: CN106645183B 公开(公告)日: 2019-03-15
发明(设计)人: 杨援;姜博宇 申请(专利权)人: 北京创思工贸有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/95
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 101113 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种光学元件表面疵病的检测装置,包括底座,具有光源;纵向导轨,设置于底座上;显微镜,设置于纵向导轨上,并且显微镜的上方设置有CCD图像传感器;载物台,包括具有光阑的载物台一和载物台二,载物台一和载物台二均设置于纵向导轨上,并依次位于显微镜的下方;载物台一与载物台二之间具有在X/Y/Z方向上可调整的相对位移;此外,载物台一的底部具有CMOS图像传感器,CMOS图像传感器和CCD图像传感器与外部的图像处理器连接,促使图像处理器利用图像处理技术处理和/或观察CCD图像传感器和CMOS图像传感器所采集的图像。有益效果:本发明能够实现小直径大曲率半径表面疵病的快速检测。
搜索关键词: 一种 光学 元件 表面 检测 装置 方法
【主权项】:
1.一种光学元件表面疵病的检测装置,其特征在于,包括:底座,具有光源;纵向导轨,设置于所述底座上;显微镜,设置于所述纵向导轨上,并且所述显微镜的上方设置有CCD图像传感器;载物台,包括具有光阑的载物台一和载物台二,所述载物台一和所述载物台二均设置于所述纵向导轨上,并依次位于所述显微镜的下方;所述载物台一与所述载物台二之间可在X/Y/Z方向上发生相对位移,并且,所述载物台一与所述载物台二在发生相对位移的情况下,所述载物台一与所述载物台二的光阑与所述光源、所述CCD图像传感器和所述显微镜位于同轴光路上;此外,所述载物台一的底部具有CMOS图像传感器,所述CMOS图像传感器和所述CCD图像传感器与外部的图像处理器连接,所述图像处理器利用图像处理技术处理和/或观察所述CCD图像传感器和CMOS图像传感器所采集的图像。
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