[发明专利]产生集成电路固有信息的装置及方法有效
| 申请号： | 201710126226.X | 申请日： | 2017-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN108537068B | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 李明修 | 申请（专利权）人： | 旺宏电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F21/75 | 分类号： | G06F21/75 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 曹玲柱 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种适用于集成电路的固有信息产生装置，其包括多个源存储单元对以及比较电路。该些源存储单元对其中之一包括具有第一电性参数值的第一源存储单元以及具有第二电性参数值的第二源存储单元。比较电路耦接该些源存储单元对，用以产生集成电路的固有信息。比较电路包括第一比较器。第一比较器耦接第一源存储单元以及第二源存储单元，用以比较第一电性参数值以及第二电性参数值，以依据比较结果产生固有信息的第一位的位值。 | ||
| 搜索关键词： | 产生 集成电路 固有 信息 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种固有信息产生装置，适用于一集成电路，其特征在于，包括：多个源存储单元对，该些源存储单元对其中之一包括：一第一源存储单元，具有一第一电性参数值；以及一第二源存储单元，具有一第二电性参数值；以及一比较电路，耦接该些源存储单元对，用以产生该集成电路的一固有信息，该比较电路包括：一第一比较器，耦接该第一源存储单元以及该第二源存储单元，用以比较该第一电性参数值以及该第二电性参数值，以依据比较结果产生该固有信息的一第一位的位值。
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