[发明专利]一种天线测试基板、耦合测试系统以及耦合测试方法有效
| 申请号： | 201710128378.3 | 申请日： | 2017-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN107046428B | 公开（公告）日： | 2021-01-19 |
| 发明（设计）人： | 徐逢春;张力 | 申请（专利权）人： | 上海为准电子科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B1/00 | 分类号： | H04B1/00;H04M1/24 |
| 代理公司： | 北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297 | 代理人： | 龚家骅 |
| 地址： | 201600 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种天线测试基板，该天线测试基板设置有测试天线组，其中测试天线组由射频开关以及多个频段各不相同的测试天线组成，多个测试天线分别与所述射频开关连接。通过采用该天线测试基板，可以针对不同类型、不同型号的无线测试终端进行灵活配置的耦合测试，具备高增益、高灵敏度和低成本的特点，同时避免模具的浪费，降低人工劳动的复杂性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 天线 测试 耦合 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种天线测试基板，其特征在于，所述天线测试基板设置有测试天线组，其中：所述测试天线组由射频开关以及多个频段各不相同的测试天线组成；所述多个测试天线分别与所述射频开关连接。
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