[发明专利]声光晶体与换能器键合结构有效

专利信息
申请号: 201710128424.X 申请日: 2017-03-06
公开(公告)号: CN106908970B 公开(公告)日: 2019-09-13
发明(设计)人: 陆川;刘伟;陈华志;米佳;张永川 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十六研究所
主分类号: G02F1/11 分类号: G02F1/11
代理公司: 重庆博凯知识产权代理有限公司 50212 代理人: 李海华
地址: 400060 *** 国省代码: 重庆;50
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种声光晶体与换能器键合结构,在声光晶体和换能器表面分别依次镀制有底电极层和焊接层,声光晶体的焊接层和换能器的焊接层键合在一起,在声光晶体的底电极层和焊接层之间以及换能器的底电极层和焊接层之间分别设有金属过渡层;焊接层通过金属过渡层附着在底电极层上后,底电极层和声光晶体的附着力大于焊接层直接附着在底电极层上时底电极层和声光晶体的附着力;金属过渡层厚度使键合层整体满足器件声阻抗匹配要求。本发明键合后换能器表面不再出现开裂的现象,键合后换能器强度、换能器附着力增加,器件热应力明显降低。
搜索关键词: 声光 晶体 换能器键合 结构
【主权项】:
1.降低声光晶体与换能器键合后界面热应力的方法,其特征在于:先在声光晶体和换能器表面分别镀制底电极层,然后在底电极层上镀制金属过渡层;接着在金属过渡层上镀制焊接层,最后将声光晶体和换能器上的焊接层对应键合在一起;金属过渡层厚度使键合层整体满足器件声阻抗匹配要求;通过匹配方程计算满足声阻抗匹配的金属过渡层厚度范围,在此范围内界面热应力随金属过渡层厚度增加而减小;所述底电极层材料为Cr,焊接层材料为Sn;金属过渡层材料为Au。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第二十六研究所,未经中国电子科技集团公司第二十六研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710128424.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top