[发明专利]一种并行CRC校验码的计算方法及系统有效

专利信息
申请号: 201710128854.1 申请日: 2017-03-06
公开(公告)号: CN107239362B 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 梁利平;王志君;张笑铭 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种并行CRC校验码的计算方法及系统,其中,所述并行CRC校验码的计算方法采用了参数化的方法,实现了根据需要改变并行度和生成多项式,从而提高所述并行CRC校验码的计算方法的可移植性的目的,并且所述并行CRC校验码采用移位操作和异或运算提到了传统并行CRC校验码计算方法中矩阵高次幂的求解,减少了运算量,在算法层上比直接计算减少了大约75%的计算时间。
搜索关键词: 一种 并行 crc 校验码 计算方法 系统
【主权项】:
一种并行CRC校验码的计算方法,其特征在于,用于计算待生成数据data=[dk‑1 dk‑2 dk‑3 … d0]的CRC校验码,所述并行CRC校验码的计算方法包括:S101:获取生成多项式poly=[pn‑1 pn‑2 pn‑3 … p0]和并行度w;S102:利用所述生成多项式生成第一临时矩阵temp;其中,S103:利用所述生成多项式生成第二临时矩阵S104:利用所述待生成数据中未处理数据的前w位生成中间系数向量S105:将所述中间系数向量与所述第一临时矩阵按列作与运算,获得第一中间矩阵S106:将所述第一中间矩阵的列向量按列依次进行缩减异或运算,获得第二中间矩阵factor=[fn‑1 fn‑2 fn‑3 … f0];S107:将所述第二中间矩阵按位依次与所述第二临时矩阵中的列向量作与运算,获得第三中间矩阵S108:将所述第三中间矩阵的所有列作按位异或运算,获得校验向量判断所述待生成数据中未处理数据是否为零,如果是,则将所述校验向量作为所述待生成数据的CRC校验码;如果否,则利用所述校验向量更新所述中间系数向量的前n行,利用所述待生成数据中未处理数据的前w位更新所述中间系数向量的后w行,并返回将所述中间系数向量与所述第一临时矩阵按列作与运算,获得第一中间矩阵的步骤。
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