[发明专利]基于广义内积任意阵列下的干扰样本剔除方法在审

专利信息
申请号: 201710129122.4 申请日: 2017-03-06
公开(公告)号: CN106855618A 公开(公告)日: 2017-06-16
发明(设计)人: 周宇;陈展野;郝晨阳;张林让;万俊 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01S7/292 分类号: G01S7/292
代理公司: 陕西电子工业专利中心61205 代理人: 程晓霞,王品华
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供了一种基于广义内积任意阵列下的干扰样本剔除方法,解决了目前无法对任意阵列构型天线的回波样本进行挑选的技术问题。其实现步骤是利用雷达发射信号,选取对应回波数据作为训练样本;离线组成杂波子空间的低秩逼近矩阵Ur;离线计算杂波协方差矩阵的逆矩阵;计算每个训练样本的广义内积值;设定检测门限η;对干扰样本进行剔除,筛选训练样本,最终得到消除干扰样本后的待测样本,以便进行下一步空时二维自适应处理。本发明离线构造杂波协方差的逆矩阵,其中包含单个阵元的位置及波束指向信息,因此可剔除任意阵列构型天线下的干扰样本,处理结果不受训练样本的影响,且运算量小。用于机载及空间雷达空时二维信号处理。
搜索关键词: 基于 广义 内积 任意 阵列 干扰 样本 剔除 方法
【主权项】:
一种基于广义内积任意阵列下的干扰样本剔除方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,得到训练样本:利用雷达发射信号,并接收对应的回波数据;在雷达接收的回波数据中,在待检测距离单元的左右两端分别选取多个距离单元,将选取的L个距离单元的回波数据作为对应的L个训练样本,将第i个训练样本表示为Xi,i取1至L;步骤2,离线组成杂波子空间的低秩逼近矩阵Ur,将每个训练样本按照方位向均匀划分为Nc个样本块,离线构造杂波散射体导向矢量矩阵Vc,在杂波散射体导向矢量矩阵Vc中计算得到所有的非零特征值对应的特征向量,组成杂波子空间的低秩逼近矩阵Ur;步骤3,利用低秩逼近矩阵近似表达真实杂波子空间特性,根据杂波子空间的低秩逼近矩阵Ur,离线计算杂波噪声协方差矩阵的逆矩阵步骤4,根据采集到的每个训练样本的数据及杂波噪声协方差矩阵的逆矩阵计算出每个训练样本的广义内积值;步骤5,根据噪声功率,设定检测门限η;步骤6,根据每个训练样本的GIP及设定的检测门限η,判断第i个训练样本是否满足设定的剔除条件,如果满足,将其剔除;如果不满足,将其保留;同样的方法遍历检测所有的训练样本,最终保留所有经筛选的样本,得到剔除干扰样本后的样本,将所有经过筛选后保留的样本构成待测样本,完成基于广义内积任意阵列下的干扰样本的剔除。
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