[发明专利]一种三维天线阵列综合孔径辐射计的图像反演方法

摘要

本发明公开了一种三维天线阵列综合孔径辐射计的图像反演方法，包括：S1计算所有基线的三维空间频率；S2随机产生Q组场景并将该Q组场景作为Q个观测场景；S3计算三维天线阵列综合孔径辐射计输出的可见度值；S4得到Q组场景对应的可见度V_q与测量的可见度相减误差：S5计算Q组误差的范数E_q，并将范数E_q记为第q个场景的权值；S6若误差范数E_q小于该场景之前所有迭代中得到的误差范数，则其为第q个场景的局部最匹配场景；S7若本次迭代的全局最小误差范数小于之前所有迭代中的全局最小误差范数，则其为全局最匹配场景；S8迭代计算直至满足结束条件。本发明的方法能有效提高三维天线阵列综合孔径辐射计反演图像的精度，适用于规则或不规则排列的三维天线阵列综合孔径辐射计。

主权项

1.一种三维天线阵列综合孔径辐射计的图像反演方法，包括下述步骤：S1：根据三维天线阵列中单元天线的位置坐标计算所有基线的三维空间频率；S2：随机产生Q组场景并将该Q组场景作为Q个观测场景，其中每组场景均为一个二维随机矩阵；S3：针对上述Q个观测场景，计算三维天线阵列综合孔径辐射计输出的可见度值；S4：将每组场景对应的可见度V_q分别与三维天线阵列综合孔径辐射计测量的可见度相减，得到Q组误差；S5：计算上述Q组误差的范数E_q，并将所述范数E_q记为第q个场景的权值，q＝1,2,……,Q；S6：若第q个场景本次迭代得到的误差范数E_q小于该场景之前所有迭代中得到的误差范数，则将该场景在本次迭代中的值T_q赋给其中为第q个场景的局部最匹配场景；S7：本次迭代中所有场景的最小误差范数记为全局最小误差范数，若本次迭代的全局最小误差范数小于之前所有迭代中的全局最小误差范数，则将本次迭代中的全局最小误差范数对应的场景赋给L_Global，其中L_Global称为全局最匹配场景；S8：计算下次迭代中Q组场景的值，并更新所有场景；S9：判断是否满足结束迭代运算的条件，若不满足结束条件则跳转到步骤S3，继续迭代计算；若满足结束条件则全局最匹配场景L_Global就是三维天线阵列综合孔径辐射计的反演图像。