[发明专利]鳍式场效应管及其形成方法有效
申请号: | 201710130767.X | 申请日: | 2017-03-07 |
公开(公告)号: | CN108574009B | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 周飞 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 吴敏 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种鳍式场效应管及其形成方法,所述鳍式场效应管的形成方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上具有多个分立的鳍部;形成横跨所述鳍部的伪栅极,所述伪栅极覆盖鳍部的部分顶部和侧壁;形成覆盖所述伪栅极和所述鳍部的层间介质层;去除所述伪栅极,在层间介质层中形成开口;在所述开口中形成栅介质层;在所述栅介质层和所述层间介质层上形成阻挡层;去除位于层间介质层上的栅介质层和阻挡层;去除位于层间介质层上的栅介质层和阻挡层的步骤之后,进行退火处理;去除所述开口中的阻挡层;在所述开口中形成金属栅极。本发明形成的鳍式场效应管的电学性能得到提高。 | ||
搜索关键词: | 场效应 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种鳍式场效应管的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上具有多个分立的鳍部;形成横跨所述鳍部的伪栅极,所述伪栅极覆盖鳍部的部分顶部和侧壁;形成覆盖所述伪栅极和所述鳍部的层间介质层;去除所述伪栅极,在层间介质层中形成开口;在所述开口中形成栅介质层;在所述栅介质层和所述层间介质层上形成阻挡层;去除位于层间介质层上的栅介质层和阻挡层;去除位于层间介质层上的栅介质层和阻挡层的步骤之后,进行退火处理;去除所述开口中的阻挡层;在所述开口中形成金属栅极。
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