[发明专利]基于SiPM的自动曝光检测装置及方法、平板探测器有效

专利信息
申请号: 201710131583.5 申请日: 2017-03-07
公开(公告)号: CN108567437B 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 高鹏飞;黄翌敏;袁冉;马放 申请(专利权)人: 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;G01T1/24
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 姚艳
地址: 201201 上海市浦东新区张江*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种基于SiPM的自动曝光检测装置及方法、平板探测器,其中,所述基于SiPM的自动曝光检测装置应用于平板探测器中,其至少包括:SiPM传感器模块,连接于所述SiPM传感器模块的信号调理电路,连接于所述信号调理电路的迟滞比较电路,连接于所述迟滞比较电路的FPGA电路。本发明的基于SiPM的自动曝光检测装置,使用SiPM作为传感器,SiPM具有单光子检测能力,相比现有AED模块中的传感器,具有更强的光子探测能力,可以更快速的检测到X射线的变化,最大程度上实现T1和T0时刻的同步,减少剂量损失,大幅度减少甚至消除过渡带;SiPM的饱和恢复时间短至ns级,可以更快速精确地检测到曝光结束信号。
搜索关键词: 基于 sipm 自动 曝光 检测 装置 方法 平板 探测器
【主权项】:
1.一种基于SiPM的自动曝光检测装置,应用于平板探测器中,其特征在于,所述基于SiPM的自动曝光检测装置至少包括:SiPM传感器模块,用于感应X射线的变化,并输出相应的信号;信号调理电路,连接于所述SiPM传感器模块,用于将所述SiPM传感器模块输出的信号进行放大和调理,以输出正向信号;迟滞比较电路,连接于所述信号调理电路,用于将所述正向信号的幅值与预设阈值进行比较,以输出电平信号;其中,在所述正向信号的幅值大于第一阈值时,输出高电平信号;在所述正向信号的幅值小于第二阈值时,输出低电平信号;其中,所述第一阈值大于所述第二阈值;FPGA电路,连接于所述迟滞比较电路,用于检测所述电平信号,判断在预设时长内高电平信号所占时间是否达到第一设定值,若达到则判定曝光开始,输出曝光开始信号;在输出所述曝光开始信号后,继续判断在所述预设时长内高电平信号所占时间是否达到第二设定值,若达到则判定曝光结束,输出曝光结束信号;其中,所述第一预设值大于所述第二预设值。
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