[发明专利]利用工业摄影测量法实现天线辐射特性测试的方法在审
| 申请号： | 201710133789.1 | 申请日： | 2017-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN106839984A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 卢华强 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十九研究所 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/24;G01R29/10 |
| 代理公司： | 西北工业大学专利中心61204 | 代理人： | 陈星 |
| 地址： | 710072 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种利用工业摄影测量法实现天线辐射特性测试的方法，首先根据天线设计要求，获得主反射面表面精度及副面、馈源与主反射面的几何关系，建立天线理论几何关系；再将天线理论几何关系导入测量计算机中，建立工业摄影测量基准坐标系；在天线系统电气性能测试完成后，通过工业摄影法拍摄主反射面、副反射面和馈源表面上粘贴的描述各自位置姿态的测量标志点，处理得到主反射面、副反射面与馈源的三维几何关系；将得到的主反射面、副反射面与馈源的三维几何关系，与天线理论几何关系进行比对，如果各项误差小于设计时允许的最大公差，则认为天线辐射特性满足要求。本发明能够大幅度降低成本，提高测试精度，降低人员消耗，提高效率。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 工业 摄影 测量 实现 天线 辐射 特性 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种利用工业摄影测量法实现天线辐射特性测试的方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1：根据天线设计要求，获得主反射面表面精度及副面、馈源与主反射面的几何关系，建立天线理论几何关系；步骤2：将天线理论几何关系导入测量计算机中，建立工业摄影测量基准坐标系；在天线系统电气性能测试完成后，通过工业摄影法拍摄主反射面、副反射面和馈源表面上粘贴的描述各自位置姿态的测量标志点，处理得到主反射面、副反射面与馈源的三维几何关系；步骤3：将步骤2得到的主反射面、副反射面与馈源的三维几何关系，与步骤1中的天线理论几何关系进行比对，如果各项误差小于设计时允许的最大公差，则认为天线辐射特性满足要求。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第三十九研究所，未经中国电子科技集团公司第三十九研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710133789.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：应力二次元检测一体机
- 下一篇：一种保护脊椎的保暖衣服
