[发明专利]总线胚胎电子细胞阵列中电子细胞数目选择方法有效
| 申请号： | 201710136635.8 | 申请日： | 2017-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN106951955B | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 蔡金燕;孟亚峰;王涛;韩春辉;李丹阳;孟繁卿 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军军械工程学院 |
| 主分类号： | G06N3/00 | 分类号： | G06N3/00 |
| 代理公司： | 13120 石家庄国为知识产权事务所 | 代理人： | 陆林生 |
| 地址： | 050003 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明适用于胚胎电子细胞阵列技术领域，提供了一种总线胚胎电子细胞阵列中电子细胞数目选择方法。该方法包括：分析总线胚胎电子细胞阵列的结构和工作特点，采用多态系统理论，建立总线胚胎电子细胞阵列的可靠性分析模型；以MOS管消耗数目为硬件资源消耗的衡量指标，建立总线胚胎电子细胞阵列的硬件资源消耗模型；针对电路的设计要求，利用所述可靠性分析模型和所述硬件资源消耗模型对阵列设计进行评估，确定总线胚胎电子细胞阵列中电子细胞的数目。上述方法能够合理地选择阵列功能模块内电子细胞的数目与空闲电子细胞数目，兼顾阵列的可靠性和硬件资源消耗。 | ||
| 搜索关键词： | 总线 胚胎 电子 细胞 阵列 数目 选择 方法 | ||
【主权项】：
1.一种总线胚胎电子细胞阵列中电子细胞数目选择方法，其特征在于，包括：/n分析总线胚胎电子细胞阵列的结构和工作特点，采用多态系统理论，建立总线胚胎电子细胞阵列的可靠性分析模型；/n以MOS管消耗数目为硬件资源消耗的衡量指标，建立总线胚胎电子细胞阵列的硬件资源消耗模型；/n针对电路设计要求，利用所述可靠性分析模型和所述硬件资源消耗模型评估设计阵列的性能，确定总线胚胎电子细胞阵列中电子细胞数目；/n其中，所述总线胚胎电子细胞阵列的硬件资源消耗模型为：/n
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