[发明专利]一种高信噪比的光计算光学相干成像系统

摘要

本发明涉及一种高信噪比的光计算光学相干成像系统，其特征在于，宽带光源发出的直流宽带光经第一耦合器分为参考光和测量光；参考光发射到第一光相位调制器进行调制后发射到色散器件，经色散器件的光发射到第二光相位调制器再次进行调制，调制后的光经一聚焦透镜发射到一反射镜后沿着原光路返回并发射到第二耦合器；测量光进入色散器件，经色散器件出射的光经一聚焦透镜进入二维扫描系统，二维扫描系统用于将测量光反射到待测样品的不同位置，经待测样品不同位置、不同深度反射的光沿着原光路返回进入第二耦合器与参考光发生干涉；经第二耦合器出射的干涉光依次经平衡探测器、滤波器和解调器发送到计算机得到样品的结构图像。

主权项

1.一种高信噪比的光计算光学相干成像系统，其特征在于，包括宽带光源、两耦合器、信号发生装置、两光相位调制器、色散器件、四环形器、二维扫描系统、平衡探测器、滤波器、解调器和计算机；其中，第一光相位调制器经所述信号发生装置产生形状为cos(at2)信号进行驱动，第二光相位调制器经所述信号产生装置产生形状为cos(at2+2πf0t)信号进行驱动，其中，t为时间，a和f0为常数；所述宽带光源发出的直流宽带光经第一耦合器分为参考光和测量光；所述参考光经所述第一光相位调制器进行调制后通过第一环形器发射到所述色散器件，经所述色散器件出射的光经第二环形器发射到所述第二光相位调制器再次进行调制后发射到第三环形器，经所述第三环形器出射的光经一聚焦透镜发射到一反射镜后沿着原光路返回并经所述第三环形器发射到第二耦合器；测量光经所述第二环形器进入所述色散器件，所述色散器件出射的光经所述第一环形器发射到第四环形器，经所述第四环形器出射的光经一聚焦透镜进入所述二维扫描系统，所述二维扫描系统用于将测量光反射到待测样品，经所述待测样品反射的光沿着原光路返回经所述第四环形器进入所述第二耦合器与参考光发生干涉；经所述第二耦合器出射的干涉光依次经所述平衡探测器、滤波器和解调器发送到所述计算机得到所述待测样品的结构图像。