[发明专利]一种基于多层涂硼薄膜和多丝正比室的中子探测器在审
申请号: | 201710138568.3 | 申请日: | 2017-03-09 |
公开(公告)号: | CN106950592A | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 孙志嘉;王艳凤;马长利;周良;唐彬;周健荣;杨桂安;许虹;滕海云;樊瑞睿;陈元柏 | 申请(专利权)人: | 东莞中子科学中心;中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
主分类号: | G01T3/00 | 分类号: | G01T3/00 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281 | 代理人: | 郭燕 |
地址: | 523808 广东省东莞*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开了一种基于多层涂硼薄膜和多丝正比室的中子探测器。本申请的中子探测器包括至少一个中子检测单元,中子检测单元由平行的第一涂硼入射窗、第一读出丝面、阳极丝面、第二读出丝面和第二涂硼入射窗组成;两读出丝面分别由若干平行镀金钨丝排列而成,各读出丝面中两条镀金钨丝为一路读出通道连接一延迟块单元,各读出丝面延迟块单元串联后分别由两路信号引出,两读出丝面的镀金钨丝走向垂直;阳极丝面由若干平行镀金钨丝排列成,其镀金钨丝与第一读出丝面镀金钨丝走向相同。本申请的中子探测器,通过测量延迟块单元两端信号时间差,来确定入射中子位置,减少了电子学的读出路数;本申请的中子探测器制作可在国内完成,真正实现了国产化。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 多层 薄膜 正比 中子 探测器 | ||
【主权项】:
一种基于多层涂硼薄膜和多丝正比室的中子探测器,其特征在于:所述中子探测器包括至少一个中子检测单元,所述中子检测单元依序由相互平行的第一涂硼入射窗、第一读出丝面、阳极丝面、第二读出丝面和第二涂硼入射窗组成;所述第一读出丝面由若干条平行的镀金钨丝平面排列而成,两条镀金钨丝为一路读出通道,每一路读出通道上设置一个延迟块单元,第一读出丝面的所有延迟块单元串联后由两路信号引出;所述阳极丝面由若干条平行的镀金钨丝平面排列而成,阳极丝面的镀金钨丝与第一读出丝面的镀金钨丝走向相同;所述第二读出丝面由若干条平行的镀金钨丝平面排列而成,同样的,两条镀金钨丝为一路读出通道,每一路读出通道上设置一个延迟块单元,第一读出丝面的所有延迟块单元串联后由两路信号引出;并且,第二读出丝面的镀金钨丝与阳极丝面的镀金钨丝走向垂直。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东莞中子科学中心;中国工程物理研究院核物理与化学研究所,未经东莞中子科学中心;中国工程物理研究院核物理与化学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710138568.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种塑料鞋加工用烘干装置
- 下一篇:一种绳带自动包胶装置