[发明专利]一种基于多层涂硼薄膜和多丝正比室的中子探测器在审

专利信息
申请号: 201710138568.3 申请日: 2017-03-09
公开(公告)号: CN106950592A 公开(公告)日: 2017-07-14
发明(设计)人: 孙志嘉;王艳凤;马长利;周良;唐彬;周健荣;杨桂安;许虹;滕海云;樊瑞睿;陈元柏 申请(专利权)人: 东莞中子科学中心;中国工程物理研究院核物理与化学研究所
主分类号: G01T3/00 分类号: G01T3/00
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281 代理人: 郭燕
地址: 523808 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请公开了一种基于多层涂硼薄膜和多丝正比室的中子探测器。本申请的中子探测器包括至少一个中子检测单元,中子检测单元由平行的第一涂硼入射窗、第一读出丝面、阳极丝面、第二读出丝面和第二涂硼入射窗组成;两读出丝面分别由若干平行镀金钨丝排列而成,各读出丝面中两条镀金钨丝为一路读出通道连接一延迟块单元,各读出丝面延迟块单元串联后分别由两路信号引出,两读出丝面的镀金钨丝走向垂直;阳极丝面由若干平行镀金钨丝排列成,其镀金钨丝与第一读出丝面镀金钨丝走向相同。本申请的中子探测器,通过测量延迟块单元两端信号时间差,来确定入射中子位置,减少了电子学的读出路数;本申请的中子探测器制作可在国内完成,真正实现了国产化。
搜索关键词: 一种 基于 多层 薄膜 正比 中子 探测器
【主权项】:
一种基于多层涂硼薄膜和多丝正比室的中子探测器,其特征在于:所述中子探测器包括至少一个中子检测单元,所述中子检测单元依序由相互平行的第一涂硼入射窗、第一读出丝面、阳极丝面、第二读出丝面和第二涂硼入射窗组成;所述第一读出丝面由若干条平行的镀金钨丝平面排列而成,两条镀金钨丝为一路读出通道,每一路读出通道上设置一个延迟块单元,第一读出丝面的所有延迟块单元串联后由两路信号引出;所述阳极丝面由若干条平行的镀金钨丝平面排列而成,阳极丝面的镀金钨丝与第一读出丝面的镀金钨丝走向相同;所述第二读出丝面由若干条平行的镀金钨丝平面排列而成,同样的,两条镀金钨丝为一路读出通道,每一路读出通道上设置一个延迟块单元,第一读出丝面的所有延迟块单元串联后由两路信号引出;并且,第二读出丝面的镀金钨丝与阳极丝面的镀金钨丝走向垂直。
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