[发明专利]一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法有效
| 申请号： | 201710140201.5 | 申请日： | 2017-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN106896546B | 公开（公告）日： | 2019-12-06 |
| 发明（设计）人： | 孙长俐;陆建钢;张彬;刘诗雨;查升毫 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G02F1/133 | 分类号： | G02F1/133 |
| 代理公司： | 31220 上海旭诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郑立<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法，包括以下步骤：步骤一、将向列相液晶材料灌入液晶空间光调制器件中；步骤二、搭建相位深度测量系统，进行相位深度测量，电场加到公共电极和像素电极层两端，记录下相位深度‑灰度曲线；步骤三、搭建衍射效率测量系统，进行光束偏转衍射效率测量；步骤四、调制光调制器件，对其加载调制灰度图，依据相位深度‑灰度曲线对其进行调制，形成理想折射率形貌曲线。本发明的一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法，可在近红外波段达到6π高相位深度调制，能够提高向列相液晶光调制器件衍射效率，增大光调制器件的最大光束偏转角度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 液晶 调制 器件 衍射 效率 方法 | ||
【主权项】：
1.一种提高向列相液晶光调制器件衍射效率的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤一、将向列相液晶材料灌入液晶空间光调制器件中，以实现6π的相位深度；/n步骤二、搭建相位深度测量系统，进行相位深度测量，电场加到公共电极和像素电极层两端，记录下相位深度-灰度曲线；/n步骤三、搭建衍射效率测量系统，进行光束偏转衍射效率测量；/n步骤四、调制光调制器件，对所述光调制器件加载调制灰度图，依据相位深度-灰度曲线对其进行调制，形成理想折射率形貌曲线。/n
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