[发明专利]一种钻石纯度检测系统及方法在审
| 申请号： | 201710140291.8 | 申请日： | 2017-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN106932363A | 公开（公告）日： | 2017-07-07 |
| 发明（设计）人： | 胡宁;徐凌云;朱永凯;张许雅 | 申请（专利权）人： | 南京市计量监督检测院 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45;G01N21/87 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司32224 | 代理人： | 董建林 |
| 地址： | 210049 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种钻石纯度检测系统及方法，包括宽带光源、第一耦合器、参考臂、样品臂、光谱仪、图像采集卡和计算机；所述宽带光源的光经过第一耦合器后分成两路光信号，其中一路光信号进入到参考臂后被反射回来，形成参考光，另一路光信号进入到样品臂后照射到待测样品上后被反射回来作为信号光；参考光和信号光均经过第一耦合器发生干涉生成干涉信号，光谱仪接收干涉信号并通过图像采集卡传输到计算机中。本发明通过对样品钻石进行层析成像，从而分析出样品的光程厚度，从而计算样品的平均折射率，将测得的平均折射率与纯钻石的折射率进行相比，判断出样品钻石的纯度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 钻石 纯度 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种钻石纯度检测系统，其特征在于：包括宽带光源、第一耦合器、参考臂、样品臂、光谱仪、图像采集卡和计算机；所述宽带光源的光经过第一耦合器后分成两路光信号，其中一路光信号进入到参考臂后被反射回来，形成参考光，另一路光信号进入到样品臂后照射到待测样品上后被反射回来作为信号光；参考光和信号光均经过第一耦合器发生干涉生成干涉信号，光谱仪接收干涉信号并通过图像采集卡传输到计算机中。
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