[发明专利]一种复折射率测量装置及其测量方法在审
| 申请号： | 201710141164.X | 申请日： | 2017-03-10 |
| 公开（公告）号： | CN106770039A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 张秋长;罗天舒;刘宝林 | 申请（专利权）人： | 厦门大学嘉庚学院 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 福州元创专利商标代理有限公司35100 | 代理人： | 蔡学俊 |
| 地址： | 363105 福建省漳州*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种复折射率测量装置及其测量方法，包括激光发射器、尖劈形吸收性介质，第一镜面，第二镜面，接收屏，CCD探测器和主机，第一镜面和第二镜面对应平行设置成反射通道；激光发射器发射激光垂直入射所述尖劈形吸收性介质的直角边，光线在尖劈形吸收性介质的斜边发生折射后进入反射通道，光线在反射通道射进行若干次反射后投射在接收屏上，CCD探测器对接收屏上的光斑位置进行测量并将数据发送给主机，所述主机根据两次不同顶角的尖劈形吸收性介质引起的光斑位置的变化计算出该尖劈形吸收性介质的复折射率。本发明仅需测量光通过待测介质的实折射角，即可计算出复折射率，测量原理易理解，光路简单，仪器成本低廉。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 折射率 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
一种复折射率测量装置，其特征在于：包括激光发射器、尖劈形吸收性介质，第一镜面，第二镜面，接收屏，CCD探测器和主机，所述第一镜面和第二镜面对应平行设置成反射通道；所述激光发射器发射激光垂直入射所述尖劈形吸收性介质的直角边，光线在尖劈形吸收性介质的斜边发生折射后进入所述反射通道，光线在反射通道射进行若干次反射后投射在接收屏上，所述CCD探测器对接收屏上的光斑位置进行测量并将数据发送给主机，所述主机根据两次不同顶角的尖劈形吸收性介质引起的光斑位置的变化计算出该尖劈形吸收性介质的复折射率。
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