[发明专利]采用多探测器的光场光强分布测量方法在审

专利信息
申请号: 201710142748.9 申请日: 2017-03-10
公开(公告)号: CN107036710A 公开(公告)日: 2017-08-11
发明(设计)人: 唐锋;王向朝;郭福东 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 201800 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种采用多探测器的光场光强分布测量方法,该方法利用的系统包括光电传感单元、精密扫描台、信号处理与控制单元;采用的光电传感单元1包含2个以上的点探测器;精密扫描台带动光电传感单元扫描实现待测光场时,至少有一个参考探测器位于已检测位置,并通其光强检测值对传感探测器的光强检测值进行修正,消除光源光强波动对光强分布检测结果的影响。具有实现容易,结构简单,成本低的优点。
搜索关键词: 采用 探测器 光场光强 分布 测量方法
【主权项】:
1.一种采用多探测器的光场光强分布测量方法,该方法利用的系统包括光电传感单元(1)、精密扫描台(2)和信号处理与控制单元(3);所述的光电传感单元(1)由所述的精密扫描台(2)支撑并精密定位,所述的信号处理与控制单元(3)接收光电传感单元和精密扫描台的输出信号,并对所述的光电传感单元和精密扫描台进行控制;所述的光电传感单元包含2个以上的点探测器;所述的光电传感单元中一个点探测器称为传感探测器(1-S),其他点探测器称为参考探测器1-R1、1-R2、…、1-Rn,其中n为参考探测器的个数;所述的2个以上的点探测器的探测区域处于同一平面,两相邻点探测器的探测区域之间的中心距离相等;所述的点探测器的探测区域所处的平面称为光电传感单元的探测面;其特征在于该方法的包括下列步骤:1)在所述的信号处理与控制单元(3)的驱动下,所述的精密扫描台(2)将光电传感单元(1)的探测面调节至待测光场平面,将光电传感单元的传感探测器(1-S)的探测区域调节至待测光场范围内第1个检测位置;2)所述的光电传感单元(1)进行一次光电转换并输入所述的信号处理与控制单元(3),所述的传感探测器(1-S)的检测值即为第1个检测位置的光强检测结果I1,并将第1个检测位置标记为已检测位置;3)在所述的信号处理与控制单元(3)的驱动下,所述的精密扫描台(1)带动光电传感单元(1)的传感探测器(1-S)移动至待测光场平面第i个检测位置,移动量等于相邻点探测器的探测区域之间的中心距离,至少有一个参考探测器1-Rx位于已检测位置;其中i=2,…,m,为待测光场检测位置的坐标编号,共检测m个坐标位置;x为参考探测器的序号;4)所述的光电传感单元(1)进行一次光电转换;所述的传感探测器(1-S)的检测值表示为ISi;所述的参考探测器(1-R)的检测值表示为IR(posj),其中j=1,2,…,n,为每个参考探测器的编号,n为参考探测器的个数,posj为第j个参考探测器(1-Rj)所处的待测光场的坐标编号;所有的检测值送所述的信号处理与控制单元(3),所述的信号处理与控制单元(3)根据下式计算待测光场第i个检测位置的光强检测结果Ii I i = IS i Σ j = 1 n k j · Σ j = 1 n ( k j I pos j I R ( pos j ) ) , - - - ( 1 ) ]]>其中Iposj为待测光场第posj个检测位置的光强检测结果,kj为第posj个检测位置的计算权重;当第posj个检测位置已标记为已检测位置时,kj的值取1;当第posj个检测位置尚未标记为已检测位置或者posj不处于待测光场范围内时,kj和Iposj的值取0;计算完成后将第i个检测位置标记为已检测位置;5)重复步骤3)~4),直至检测完待测光场平面全部检测位置,全部光强检测结果Ii(i=1,2,…,m)组成的数据矩阵即为待测光场光强分布测试结果。
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