[发明专利]基于迭代反馈的X射线精准调制装置及其控制方法有效
| 申请号： | 201710145927.8 | 申请日： | 2017-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN106937469B | 公开（公告）日： | 2018-08-28 |
| 发明（设计）人： | 詹亚锋;万鹏;梁昊 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | H05G1/30 | 分类号： | H05G1/30 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种基于迭代反馈的X射线精准调制装置及其控制方法，该装置包括：测量模块，用于实时测量X光管阳极附近的高速电流密度和X光管输出的X光子流密度；调控模块，用于将接收到的高速电流密度和X光子流密度与外部输入信号进行比较，以得到调控信号；反馈环路，用于将调控信号发送至X光管，以便X光管根据调控信号进行相应的反馈控制。本发明能够通过长短期迭代反馈实现高精确度的X射线脉冲星光子到达过程模拟，具有更高的光子到达时间事件的模拟精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 反馈 射线 精准 调制 装置 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于迭代反馈的X射线精准调制装置，其特征在于，包括：测量模块，用于实时测量X光管阳极附近的高速电流密度和X光管输出的X光子流密度，其中，所述X光管内部的高速电流密度测量为实时观测、短周期数值计算过程，所述的X光管外部的光子流密度测量为累积观测、长周期数据统计过程；调控模块，用于将接收到的高速电流密度和X光子流密度与外部输入信号进行比较，以得到调控信号；反馈环路，用于将所述调控信号发送至所述X光管，以便所述X光管根据所述调控信号进行相应的反馈控制。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学，未经清华大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710145927.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种自动压滤真空系统
- 下一篇：一种具有水质探测功能的水路板
