[发明专利]基于指定位置的Mura缺陷修复方法及装置有效
| 申请号： | 201710151712.7 | 申请日： | 2017-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN106898286B | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 郑增强;秦立;刘钊 | 申请（专利权）人： | 武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/20 | 分类号： | G09G3/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于指定位置的Mura缺陷修复方法及装置，用于对平面显示模组的Mura缺陷进行修复，该方法包括以下步骤：将图像输入信号解码成帧图像的像素灰度数据，根据DeMura查找表和DeMura控制数据在该帧图像的Mura指定区域上进行插值计算得到该帧图像的Mura指定区域的补偿数据，并将该补偿数据叠加到该帧图像中对应的像素灰度数据上，得到补偿后的帧图像信号。本发明可以对平面显示模组具体的Mura缺陷区域、像素点进行定点修复，在不增加硬件成本的情况下提升Mura缺陷修复精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 指定 位置 mura 缺陷 修复 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种基于指定位置的Mura缺陷修复方法，用于对平面显示模组的Mura缺陷进行修复，其特征在于，该方法包括以下步骤：将图像输入信号解码成帧图像的像素灰度数据，根据DeMura查找表和DeMura控制数据在该帧图像的Mura指定区域上进行插值计算得到该帧图像的Mura指定区域的补偿数据，并将该补偿数据叠加到该帧图像中对应的像素灰度数据上，得到补偿后的帧图像信号。
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