[发明专利]一种管状结构内表面粗糙度测量计算方法在审
申请号: | 201710153989.3 | 申请日: | 2017-03-15 |
公开(公告)号: | CN106643629A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 张强;李红艳;杨盼 | 申请(专利权)人: | 安徽理工大学 |
主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 232001 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公布了一种管状结构内表面粗糙度测量方法,具体说明了如何借助现有测量工具,通过多次测量,结合最终测量数据,计算得出管状结构内表面粗糙度值。本发明方法不仅原理简单,思路清楚,且测量成本的经济性也较好。 | ||
搜索关键词: | 一种 管状 结构 表面 粗糙 测量 计算方法 | ||
【主权项】:
一种管状结构内表面粗糙度测量计算方法,其特征在于,利用现有表面粗糙度测量技术和厚度测量技术,对管状结构内表面粗糙度进行测量,由测量结果求内表面粗糙度值,具体步骤如下:(1)建立位置模型A、沿s方向,用表面粗糙度仪测量距离长度为w的管状结构外表面粗糙度值,将所测得数值在计算机中绘制成平面坐标曲线,生成外表面的轮廓线a,设沿管状结构延长方向为X轴,垂直于X轴且由内表面指向外表面为Y轴方向。B、由粗糙度定义,建立坐标系时,使X轴与已绘制的外表面粗糙度轮廓的算术平均中线重合,原点为中线与端面的交点。C、与步骤A相同,沿s方向,用带有探头的表面粗糙度仪测量距离长度也为w的内表面,且测量位置与外表面测量位置对齐,同时将结果也绘制平面坐标中,得到这一段的内表面粗糙度轮廓曲线b,曲线的X轴方向与A步骤中所述一致,Y轴方向与A步骤中所述方向相反。D、用厚度仪测量管状结构的厚度,沿s方向,测量距离长度为w,将测量的数值绘制在D步骤所绘制的坐标系内,得到厚度分布线c。E、将两坐标系的轮廓图绘制在同一坐标系内,两轮廓图的起点相对位置由端面处管状结构的厚度确定,两轮廓线起点和末尾的端点相连可得到区域p。F、将各个位置处对应的厚度值在外表面粗糙度轮廓线上出来,连接各个点,得到内表面粗糙度轮廓线b1,连接轮廓线a和b1两端点,得到区域q。G、对比q与p的相对位置,计算两区域重合度t,当t不符合精度要求时,重新调整测量位置,重复C、D、E、F,直至符合精度要求为止;当精度符合要求时,则可判断最终F所得的位置模型是正确的,进入下一步骤:(2)测量计算:H、按F所确定的正确位置模型,对管状结构外表面粗糙度和结构的厚度同时测量,将所测粗糙度结果绘制在坐标系中,同时在轮廓线上各个点处,向下作线段,线段长度为所在点处的管状结构厚度值,最后将所有线段的端点连接起来,得出内表面轮廓线。I、由H步骤所得内表面轮廓线,计算出内表面粗糙度。J、同一横截面上,可旋转不同角度,多次测量,取平均值,得出某一横截面处的粗糙度值。
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