[发明专利]电子元件测量电路在审
| 申请号： | 201710154000.0 | 申请日： | 2017-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN106841712A | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 明立娟;魏义林 | 申请（专利权）人： | 攀枝花学院 |
| 主分类号： | G01R1/20 | 分类号： | G01R1/20;G01R1/30 |
| 代理公司： | 成都希盛知识产权代理有限公司51226 | 代理人： | 濮云杉,杨冬 |
| 地址： | 617000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子元件测量电路，具有与被测电子元件连接的时基集成电路，所述时基集成电路通过输出端与多路模拟选择开关的对应端口连接后，接入单片机的频率信号输入端，并通过单片机的显示信号输出端输出到显示模块。本发明的电子元件测量电路，结构简单，电路体积小，能够方便、快速的对实际应用中的各种电子元件进行测量，并且测量的参数值准确性高。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 测量 电路 | ||
【主权项】：
电子元件测量电路，其特征为：具有与被测电子元件连接的时基集成电路(U2)，所述时基集成电路(U2)通过输出端(OUT)与多路模拟选择开关(U1)的对应端口连接后，接入单片机(U4)的频率信号输入端(P3.5)，并通过单片机的显示信号输出端(P0.0～P0.7)输出到显示模块(U3)。
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