[发明专利]一种MMC子模块加速寿命的试验电路及方法在审
| 申请号： | 201710154464.1 | 申请日： | 2017-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN108627709A | 公开（公告）日： | 2018-10-09 |
| 发明（设计）人： | 查鲲鹏;曹均正;闻福岳;屈海涛;李兴哲 | 申请（专利权）人： | 中电普瑞电力工程有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 | 代理人： | 徐国文 |
| 地址： | 102200 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种MMC子模块加速寿命的试验电路及方法，该试验电路为H桥型结构，其包括：设于H桥连接处的电感、分别与桥臂的两端相连的PWM波控制单元和电容，直流电源与桥臂一侧的两端并联。本发明的试验方法充分利用了加速寿命原理，提高了试验效率，节省时间。 | ||
| 搜索关键词： | 加速寿命 试验电路 桥臂 电感 试验效率 直流电源 电容 并联 试验 | ||
【主权项】：
1.一种MMC子模块加速寿命的试验电路，所述试验电路为H桥结构，其特征在于，所述试验电路包括：设于H桥连接处的电感、分别与桥臂的两端相连的PWM波控制单元和电容，所述桥臂一侧的两端并联有直流电源。
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