[发明专利]基于相似性度量因数的红外温升元件异常检测方法

摘要

本发明属于电子设备故障检测领域，公开了一种基于相似性度量因数的红外温升元件异常检测方法包括：获取标准光学图像、标准红外图像，和待测红外图像；将标准光学图像进行标定；确定待检测元件，以及与待检测元件对应的标准元件；得到N组标准电子设备电路板上标准元件的标准温升曲线；以及一组待测电子设备电路板上待检测元件的实际温升曲线；对温升曲线依次进行起点校正、阶跃校正，得到标准元件的标准参考温升曲线；确定热像异常门限；计算待检测元件的相似性度量因数，若相似性度量因数大于热像异常门限，则待检测元件正常，否则待检测元件异常；能够提高电子设备电路板上元件故障检测的实时性。

主权项

1.一种基于相似性度量因数的红外温升元件异常检测方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：步骤1，获取标准电子设备电路板的标准光学图像和N组标准红外视频流，且获取待测电子设备电路板的一组待测红外视频流，每组标准红外视频流包含多帧标准红外图像，一组待测红外视频流包含多帧待测红外图像；所述标准电子设备电路板与所述待测电子设备电路板为同一类型的电路板，所述标准电子设备电路板上的所有元件为标准元件，所述待测电子设备电路板上的所有元件为待检测元件；步骤2，将所述标准光学图像进行标定，使其与每帧标准红外图像、待测红外图像相匹配，在所述标准光学图像上确定每个标准元件的位置，其中，每个标准元件在标准光学图像上的位置与其在标准红外图像上的位置一一对应，且每个标准元件在标准光学图像上的位置与其在待测红外图像上的位置一一对应；步骤3，确定待检测元件，以及与所述待检测元件对应的标准元件；根据每组标准红外视频流中的多帧标准红外图像，得到每组标准电子设备电路板上标准元件的标准温升曲线，从而得到N组标准电子设备电路板上标准元件的标准温升曲线；以及根据一组待测红外视频流中的多帧待测红外图像，得到一组待测电子设备电路板上待检测元件的实际温升曲线；步骤4，对所述N组标准电子设备电路板上标准元件的标准温升曲线依次进行起点校正、阶跃校正，得到校正后的N组标准温升曲线，对所述校正后的N组标准温升曲线叠加后取平均，得到标准元件的标准参考温升曲线；并对一组待测电子设备电路板上待检测元件的实际温升曲线依次进行起点校正、阶跃校正，得到待检测元件校正后的一组实际温升曲线；步骤5，分别计算校正后的N组标准温升曲线与所述标准参考温升曲线的相似性度量因数，得到N个相似性度量因数，并根据所述N个相似性度量因数确定热像异常门限；再计算所述待检测元件校正后的一组实际温升曲线与所述标准参考温升曲线的实际相似性度量因数，若所述实际相似性度量因数大于所述热像异常门限，则所述待检测元件正常，若所述相似性度量因数小于所述热像异常门限，则所述待检测元件异常。