[发明专利]基于三维FIB-SEM图像的页岩孔隙定量表征方法有效

专利信息
申请号: 201710156327.1 申请日: 2017-03-16
公开(公告)号: CN107067379B 公开(公告)日: 2018-07-20
发明(设计)人: 牛素鋆;杨继进 申请(专利权)人: 中国科学院地质与地球物理研究所
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T5/20;G06T7/11;G06T7/136
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 巴晓艳
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及石油天然气地质勘探开发领域,具体为一种在页岩油气勘探中,采用FIB‑SEM识别页岩内部三维孔隙的类型和定量表征其结构信息。方法包括:利用FIB‑SEM对页岩中的无机质、有机质和孔隙进行微米和纳米级尺度的高精度的三维成像,得到三维FIB‑SEM图像;将三维FIB‑SEM图像的各二维图像进行对齐、对图像亮度不均匀性进行校正、滤波去除图像的噪声;将预处理后的图像进行分割,把图像划分孔隙区、有机质区、无机质区;对图像孔隙区中各孔隙进行标注,根据各孔隙周围有机、无机的分布情况将孔隙分为有机孔隙、无机孔隙、边界孔隙;通过数学方法分别对各孔隙进行分析,得到三维孔隙的表征参数。
搜索关键词: 基于 三维 fib sem 图像 页岩 孔隙 定量 表征 方法
【主权项】:
1.基于三维FIB‑SEM图像的页岩孔隙定量表征方法,其特征在于,所述方法包括:图像采集:利用FIB‑SEM对页岩中的无机质、有机质和孔隙进行微米和纳米级尺度的高精度的三维成像,得到三维FIB‑SEM图像;图像预处理:将三维FIB‑SEM图像的各二维图像进行对齐、对图像亮度不均匀性进行校正、滤波去除图像的噪声;图像分割:将预处理后的图像进行分割,把图像划分孔隙区、有机质区、无机质区;孔隙分析:对图像孔隙区中各孔隙进行标注,根据各孔隙周围有机质区、无机质区的分布情况将孔隙分为有机孔隙、无机孔隙、边界孔隙;定量表征参数:分别对有机孔隙、无机孔隙、边界孔隙进行分析,得到三维孔隙的各种表征参数值;所述孔隙分析具体为,(1)对三维图像的各XY方向二维图像进行孔隙连通性分析、提取各孔隙边缘;一个区域中任意两个像素能够连通,则认为这是一个孔隙;二维连通性分析依据为,像素p和q,q在像素p同一层周围的4或8个像素,则像素p和q是连通的;对各二维图像中孔隙提取边缘;(2)对边缘进行Z方向连通性分析:三维连通性分析依据为,相邻两层面的孔隙边缘像素p1和q1,如果q1在像素p1上下相邻层周围的2或10或18个像素,则像素p1和q1在Z方向是连通的;(3)对各孔隙进行标注:对每个三维孔隙进行标注;(4)计算孔隙影响因子n:;其中,num_o为每个孔隙周围有机质像素的数目;num_i为每个孔隙周围无机质像素的数目;其中;(5)孔隙类型判断:,孔隙为有机质孔隙;,孔隙为边界孔隙;,孔隙为无机质孔隙;其中
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