[发明专利]测厚设备及基板玻璃的测厚方法在审

专利信息
申请号: 201710156531.3 申请日: 2017-03-16
公开(公告)号: CN106949870A 公开(公告)日: 2017-07-14
发明(设计)人: 崔海舰;郑权 申请(专利权)人: 东旭科技集团有限公司;东旭集团有限公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司11283 代理人: 李翔,李健
地址: 100075 北京市丰台区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种该测厚设备及基板玻璃的测厚方法,该测厚设备包括测量平台(2);第一运动单元(3),该第一运动单元沿测量平台的纵向方向安装在测量平台的侧部,第一运动单元包括能够沿测量平台的纵向方向来回移动的第一滑块(3‑1);第二运动单元(4),该第二运动单元沿测量平台的横向方向设置在测量平台上,并且第二运动单元与第一运动单元的第一滑块连接,第二运动单元包括能够沿测量平台的横向方向来回移动的第二滑块(4‑1);以及传感器(6),传感器朝向测量平台安装在第二滑块上。本发明通过第一运动单元和第二运动单元的双向运动,使得实现对整张基板玻璃的逐行测量;并且由于采用传感器测量,提高了测量精度。
搜索关键词: 设备 玻璃 方法
【主权项】:
测厚设备,其特征在于,该测厚设备包括:测量平台(2);第一运动单元(3),该第一运动单元(3)沿所述测量平台(2)的纵向方向安装在所述测量平台(2)的侧部,所述第一运动单元(3)包括能够沿所述测量平台(2)的纵向方向来回移动的第一滑块(3‑1);第二运动单元(4),该第二运动单元(4)沿所述测量平台(2)的横向方向设置在所述测量平台(2)上,并且所述第二运动单元(4)与所述第一运动单元(3)的第一滑块(3‑1)连接,所述第二运动单元(4)包括能够沿所述测量平台(2)的横向方向来回移动的第二滑块(4‑1);以及传感器(6),所述传感器(6)朝向所述测量平台(2)安装在所述第二滑块(4‑1)上。
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