[发明专利]导通测试治具在审

专利信息
申请号: 201710161119.0 申请日: 2017-03-17
公开(公告)号: CN106885968A 公开(公告)日: 2017-06-23
发明(设计)人: 刘铭 申请(专利权)人: 广东长盈精密技术有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G01R27/02;G01R1/04
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 刘雯
地址: 523808 广东省东莞市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种导通测试治具。应用于工件上带有接触件的电路板,包括底座,包括用于对所述工件进行装夹的定位组件和固定组件;导通机构,设置在所述底座上并用于挤压所述接触件;及测试机构,包括与所述电路板对应并用于连接检测仪器的探针,与所述探针连接并用于驱动所述探针远离或靠近所述电路板的第一驱动组件,安装在所述底座上并用于驱动所述第一驱动组件运动的第二驱动组件。由于设置有第一驱动组件和第二驱动组件,在第一驱动组件和第二驱动组件的共同作用下,能便捷地调节探针相对工件的空间位置,使探针快速并准确的与电路板接触,从而实现检测仪器对电阻值的测量。因此,该测试治具操作方便,同时提高了工件的测试效率。
搜索关键词: 测试
【主权项】:
一种导通测试治具,应用于工件上的接触件和电路板的导通测试,其特征在于,包括:底座,包括用于对所述工件进行装夹的定位组件和固定组件;导通机构,设置在所述底座上并用于挤压所述接触件;及测试机构,包括与所述电路板对应并用于连接检测仪器的探针,与所述探针连接并用于驱动所述探针远离或靠近所述电路板的第一驱动组件,安装在所述底座上并用于驱动所述第一驱动组件运动的第二驱动组件。
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