[发明专利]一种光栅尺测量机构在审

专利信息
申请号: 201710165353.0 申请日: 2017-03-20
公开(公告)号: CN106949917A 公开(公告)日: 2017-07-14
发明(设计)人: 林长友;王忠杰;王洋;逄增宝;许云龙 申请(专利权)人: 长春禹衡光学有限公司
主分类号: G01D5/38 分类号: G01D5/38
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 罗满
地址: 130012 吉林省*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种光栅尺测量机构,包括滑架和支架以及顶紧机构,滑架上设有用于对当前位置信息进行解码并输出的芯片,支架上设有凹槽,滑架的底部通过压缩弹簧连接在支架的凹槽内,滑架的右侧通过拉伸弹簧连接在凹槽的侧壁上,顶紧机构包括固定在滑架上的顶块和固定在支架上的顶杆,顶杆的末端和顶块相互接触,顶块上与顶杆接触的一面烧结有金刚石层。支架带动滑架作往复直线运动时,顶紧机构也随之左右移动,顶块和顶杆时时接触并产生微小的相对滑动摩擦,由于顶块表面烧结有金刚石层,因此可提高顶块的耐磨性,进而提高了光栅尺测量机构的测量精度。
搜索关键词: 一种 光栅尺 测量 机构
【主权项】:
一种光栅尺测量机构,其特征在于,包括:滑架和支架以及顶紧机构,所述滑架上设有用于对当前位置信息进行解码并输出的芯片,所述支架上设有凹槽,所述滑架的底部通过压缩弹簧连接在所述支架的凹槽内,所述滑架的右侧通过拉伸弹簧连接在所述凹槽的侧壁上,所述顶紧机构包括固定在所述滑架上的顶块和固定在所述支架上的顶杆,所述顶杆的末端和所述顶块相互接触,所述顶块上与所述顶杆接触的一面烧结有金刚石层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长春禹衡光学有限公司,未经长春禹衡光学有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710165353.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code