[发明专利]银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法在审
| 申请号： | 201710167458.X | 申请日： | 2017-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN108627764A | 公开（公告）日： | 2018-10-09 |
| 发明（设计）人： | 禹乾勋;赵勇 | 申请（专利权）人： | 深圳市华宇半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;B07C5/36 |
| 代理公司： | 深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324 | 代理人： | 周松强 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种银行安全芯片自动化测试系统及其控制方法，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，机械手设置在V50测试机上，V50测试机与测试DUT连接，测试DUT与待测芯片连接，且机械手与待测芯片连接；V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，V50测试机对待测芯片进行测试，V50测试机将测试结果返回给机械手，且机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行好坏分类。 | ||
| 搜索关键词： | 机械手 测试机 待测芯片 测试 芯片 自动化测试系统 银行安全 测试结果信息 测试机控制 数字信号 测试区 返回 电源 分类 | ||
【主权项】：
1.一种银行安全芯片自动化测试系统，其特征在于，该系统包括V50测试机、测试DUT和机械手，所述机械手设置在V50测试机上，所述V50测试机与测试DUT连接，所述测试DUT与待测芯片连接，且所述机械手与待测芯片连接；所述V50测试机通过测试DUT把电源和数字信号发送给待测芯片，且待测芯片通过测试DUT把返回的测试结果信息发送给V50测试机；所述V50测试机控制机械手将待测芯片放置到测试区，所述V50测试机对待测芯片进行测试，所述V50测试机将测试结果返回给机械手，且所述机械手根据接收到的测试结果对待测芯片进行分类。
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