[发明专利]基于黑磷的具有高开关比低亚阀值摆幅的场效应晶体管有效
申请号: | 201710167657.0 | 申请日: | 2017-03-17 |
公开(公告)号: | CN108630759B | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 刘晶;范双青 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L29/24;H01L21/34 |
代理公司: | 天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 12214 | 代理人: | 王秀奎;李薇 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明提供基于黑磷的具有高开关比低亚阀值摆幅的场效应晶体管,其特征在于:包括设置在最底层的硅衬底,所述硅衬底的顶端设有热氧化的二氧化硅,所述热氧化的二氧化硅的顶端设有薄层黑磷,所述薄层黑磷的左右两侧分别设有漏电极和源电极,所述薄层黑磷利用浸泡在刻蚀溶液中的方法制备,刻蚀温度为室温20‑25℃,所述刻蚀溶液为(1‑50):(1‑50)的2,2,6,6‑四甲基哌啶氧化物和三苯基四氟硼酸碳的二氯甲烷溶液,刻蚀浸泡时间为5min‑7h。本发明的有益效果是得到的黑磷场效应晶体管具有很高的开关比,很低的亚阈值摆幅。 | ||
搜索关键词: | 基于 黑磷 具有 开关 低亚阀值摆幅 场效应 晶体管 | ||
【主权项】:
1.基于黑磷的具有高开关比低亚阀值摆幅的场效应晶体管,其特征在于:包括设置在最底层的硅衬底,所述硅衬底的顶端设有热氧化的二氧化硅,所述热氧化的二氧化硅的顶端设有薄层黑磷,所述薄层黑磷的左右两侧分别设有漏电极和源电极,所述薄层黑磷利用浸泡在刻蚀溶液中的方法制备,刻蚀温度为室温20‑25℃,所述刻蚀溶液为(1‑50):(1‑50)的2,2,6,6‑四甲基哌啶氧化物和三苯基四氟硼酸碳的二氯甲烷溶液,刻蚀浸泡时间为5min‑7h。
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