[发明专利]一种触摸检测方法和装置

摘要

本发明适用于电子技术领域，提供了一种触摸检测方法和装置，旨在解决现有技术中大尺寸电阻式触摸屏的性能和触控准确性无法同时满足的问题。所述方法包括：若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样；根据n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，判断触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；若触摸点所在的位置属于问题区域，则继续对触摸点进行电压值采样，并根据采样数据计算触摸点的x轴电压值和y轴电压值；根据x轴电压值和y轴电压值，确定触摸点在触摸屏的位置坐标。本发明的技术方案实现了降低处理器的处理负荷，提高触控性能，同时避免了触控显示刷新延迟等问题。

主权项

1.一种触摸检测方法，其特征在于，所述触摸检测方法包括：/n若检测到用户通过触摸屏输入触摸数据，则对检测到的触摸点进行n次电压值采样，得到所述触摸屏的二维坐标系中的n个x轴电压采样值和n个y轴电压采样值，其中，所述n为整数；/n根据所述n个x轴电压采样值和所述n个y轴电压采样值，判断所述触摸点所在的位置是否属于触摸不灵敏的问题区域；/n若所述触摸点所在的位置属于所述问题区域，则继续对所述触摸点进行p次电压值采样，得到p个x轴电压采样值和p个y轴电压采样值；/n对n+p个x轴电压采样值按照递增顺序进行排序；/n根据排序后的n+p个x轴电压采样值，将第个x轴电压采样值和第个x轴电压采样值的平均值确定为所述触摸点的x轴电压值；/n对n+p个y轴电压采样值按照递增顺序进行排序；/n根据排序后的n+p个y轴电压采样值，将第个y轴电压采样值和第个y轴电压采样值的平均值确定为所述触摸点的y轴电压值；/n根据所述x轴电压值和所述y轴电压值，确定所述触摸点在所述触摸屏的位置坐标。/n