[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 201710171555.6 | 申请日: | 2017-03-22 |
公开(公告)号: | CN107229543B | 公开(公告)日: | 2022-04-22 |
发明(设计)人: | 铃木慎一 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G04D7/00 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 欧阳帆 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及半导体装置。半导体装置包括包含第一计数器的第一计时器、包含第二计数器的第二计时器以及包含CPU的控制器以提供用于有效地诊断半导体装置(诸如,微控制器等)中内置的计时器的故障的技术。第一计时器执行与布置在半导体装置外部的外部设备的时间的时间同步。控制器将第一计数器的计数值与第二计数器的计数值进行比较以及基于比较结果检测第二计时器的故障。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,包括:第一计时器,包括第一计数器以及执行与布置在所述半导体装置外部的外部设备的时间的时间同步;第二计时器,包括第二计数器;以及控制器,包括CPU,以及将所述第一计数器的计数值与所述第二计数器的计数值进行比较并且基于比较结果检测所述第二计时器的失灵。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞萨电子株式会社,未经瑞萨电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710171555.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种测试方法及装置
- 下一篇:缓存的模拟方法及装置