[发明专利]漏磁检测单元缺陷伸缩重构方法

摘要

本发明提出一种漏磁检测单元缺陷伸缩重构方法，包括以下步骤：S1：建立单元缺陷漏磁信号数据库，获取单元缺陷的漏磁信号；S2：获取目标漏磁信号；S3：设定初始的单元伸缩系数；S4：构建漏磁信号单元伸缩正向模型；S5：将单元伸缩系数输入漏磁信号单元伸缩正向模型中进行正向预测，得到按单元伸缩系数伸缩后的缺陷的预测漏磁信号；S6：计算目标漏磁信号和预测漏磁信号之间的误差，并判断误差是否小于误差阈值，如果是，则执行S7，否则对单元伸缩系数进行修正后，并执行S5；S7：根据单元伸缩系数对单元缺陷进行伸缩操作，得到待求解缺陷的最终尺寸。本发明能够对铁磁性材料的缺陷进行有效反演，有助于提高计算速度和求解精度。

主权项

一种漏磁检测单元缺陷伸缩重构方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：建立单元缺陷漏磁信号数据库，获取单元缺陷的漏磁信号S2：获取铁磁性材料待求解缺陷的漏磁信号，作为目标漏磁信号Htar(x,y,z0)；S3：设定初始的单元伸缩系数k；S4：构建漏磁信号单元伸缩正向模型，其中，所述漏磁信号单元伸缩正向模型的输入为所述单元伸缩系数k，输出为按单元伸缩系数k伸缩后的缺陷的预测漏磁信号；S5：将所述单元伸缩系数k输入所述漏磁信号单元伸缩正向模型中进行正向预测，得到按单元伸缩系数k伸缩后的缺陷的预测漏磁信号S6：计算所述目标漏磁信号Htar(x,y,z0)和所述预测漏磁信号之间的误差E，并判断所述误差E是否小于误差阈值ε，如果是，则执行S7，否则对所述单元伸缩系数k进行修正后，执行所述S5；S7：根据所述单元伸缩系数k对单元缺陷进行伸缩操作，得到待求解缺陷的最终尺寸。