[发明专利]一种整精米率批量测定方法及其设备在审
| 申请号： | 201710175005.1 | 申请日： | 2017-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN106918595A | 公开（公告）日： | 2017-07-04 |
| 发明（设计）人： | 姚远;杨天乐;周月;武威;刘涛;孙成明 | 申请（专利权）人： | 扬州大学 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 南京钟山专利代理有限公司32252 | 代理人： | 戴朝荣 |
| 地址： | 225009 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种整精米率批量测定方法及其设备，包含图像获取，将米粒通过振动器均匀散落在传送带上，相机在正上方拍照获取米粒初始图像；图像预处理，将米粒从背景中提取出来，并进行去噪和平滑处理；分离粘连米粒，利用凹点检测和凹点匹配分离粘连米粒；识别整精米，利用最小外接矩形法计算粒长，从而识别整精米；计算整精米率利用整精米率公式HRY＝S_hr/S_total×100％计算整精米率。本发明实现了整精米率连续批量测量，提高了测量效率，并且测量精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 精米 批量 测定 方法 及其 设备 | ||
【主权项】：
一种整精米率批量测定方法，其特征在于包含以下步骤：步骤一：图像获取，将米粒通过振动器均匀散落在传送带上，相机在正上方拍照获取米粒初始图像；步骤二：图像预处理，将米粒从背景中提取出来，并进行去噪和平滑处理；步骤三：分离粘连米粒，利用凹点检测和凹点匹配分离粘连米粒；步骤四：识别整精米，利用最小外接矩形法计算粒长，从而识别整精米；步骤五：计算整精米率：利用整精米率公式HRY＝S_hr/S_total×100％计算整精米率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于扬州大学，未经扬州大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710175005.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
