[发明专利]阵列基板及其制作方法有效
申请号: | 201710175245.1 | 申请日: | 2017-03-22 |
公开(公告)号: | CN106816410B | 公开(公告)日: | 2019-05-31 |
发明(设计)人: | 谭志威 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/12;G02F1/1362 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种阵列基板的制作方法及阵列基板。本发明的阵列基板的制作方法,结合COA技术与BOA技术,先在衬底基板上制作黑色矩阵,再在黑色矩阵上方制作顶栅型的TFT器件,最后在TFT器件上方制作彩色滤光层,其中,像素电极直接设于漏极上与漏极相接触,该制作方法可以提高TFT器件的电学性能及性能稳定性,提升显示面板的品质,相对于现有阵列基板的制作方法,缩减了所使用的光罩和制程,制作方法简单,节约生产成本。本发明的阵列基板,制作方法简单,TFT器件电学性能好、性能稳定,可提升显示面板的品质。 | ||
搜索关键词: | 阵列 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种阵列基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1、提供一衬底基板(10),在所述衬底基板(10)上涂布一层黑色光阻材料,经曝光显影后,得到黑色矩阵(20);然后在黑色矩阵(20)、及衬底基板(10)上沉积形成隔离层(30);步骤S2、在所述隔离层(30)上依次沉积第二金属层(40’)、及离子掺杂非晶硅层(51’),对所述第二金属层(40’)、及离子掺杂非晶硅层(50’)进行图案化处理,由所述第二金属层(40’)得到间隔的源极(41)和漏极(42),由所述离子掺杂非晶硅层(51’)得到位于所述源极(41)和漏极(42)上的欧姆接触层(51),所述欧姆接触层(51)的尺寸小于所述源极(41)和漏极(42)的尺寸而露出所述漏极(42)的部分上表面;步骤S3、在经过步骤S2的衬底基板(10)上沉积透明导电膜,对所述透明导电膜进行图案化处理,得到像素电极(60),所述像素电极(60)位于所述漏极(42)、及隔离层(30)上,与所述欧姆接触层(51)露出的漏极(42)相接触;步骤S4、在经过步骤S3的衬底基板(10)上沉积非晶硅层(52’),对所述非晶硅层(52’)进行图案化处理,得到半导体层(52),所述半导体层(52)位于所述欧姆接触层(51)、及隔离层(30)上,与所述欧姆接触层(51)共同构成有源层(50);步骤S5、在经过步骤S4的衬底基板(10)上依次沉积栅极绝缘层(70)、第一金属层(80’),对所述第一金属层(80’)进行图案化处理,得到对应位于所述有源层(50)上方的栅极(80);步骤S6、在所述栅极绝缘层(70)、及栅极(80)上沉积钝化层(90);步骤S7、在所述钝化层(90)上形成彩色滤光膜层(95)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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