[发明专利]一种用于线性传感器的测试系统

摘要

本发明涉及一种用于线性传感器的测试系统，主要解决现有技术中存在的测试过程复杂，测试精度低的技术问题，本发明通过采用所述测试系统包括待测线性传感器，AMP运放，与AMP运放连接的ADC转换模块，与所述ADC转换模块连接的FPGA，与FPGA连接的A380图像处理器，以及与A380图像处理器连接的上位机，所述FPGA还与光源模块连接，较好的解决了该问题，可用于线性传感器的工业生产中。

主权项

1.一种用于线性传感器的测试系统，其特征在于：所述测试系统包括待测线性传感器，AMP运放，与AMP运放连接的ADC转换模块，与所述ADC转换模块连接的FPGA，与FPGA连接的A380图像处理器，以及与A380图像处理器连接的上位机；所述FPGA还与光源模块连接；所述AMP运放用于放大待测线性传感器模拟输出信号；所述ADC转换模块用于转换AMP输出的放大信号至12Bit数据；所述FPGA用于预处理所述12Bit数据；所述A380图像处理器用于传输预处理后的8Bit数据；所述上位机用于测试图像质量；所述光源模块用于输出光源；所述测试系统的测试方法包括：(1)开启线性传感器测试系统，设置光源模块在合适亮度；(2)通过IC读取待测线性传感器ID，判断所述ID，不正确则标记为I2C不良，正确则进入步骤(3)；(3)对待测线性传感器及FPGA进行参数初始化，所述FPGA预处理待测线性传感器数据，上位机根据FPGA预处理方法进行反向处理，得到还原数据；(4)设置MeanDark阈值范围；根据所述还原数据进行MeanDark数据处理，计算得出MeanDark，MeanDark不属于MeanDark阈值范围内，则标记为MeanDark不良；MeanDark属于MeanDark阈值范围内，进入步骤(5)；(5)根据步骤(4)中MeanDark进行MeanSub数据处理，设置MeanSub阈值范围，计算MeanSub，所述MeanSub不属于MeanSub阈值范围内，则标记为MeanSub不良；MeanSub属于MeanSub阈值范围内，进入步骤(6)；(6)进行坏点不良测试，存在坏点则标记为坏点不良，不存在坏点标记为良品，完成测试。