[发明专利]GIS设备低压导体表面电场强度测量装置及方法在审

专利信息
申请号: 201710177530.7 申请日: 2017-03-23
公开(公告)号: CN106896302A 公开(公告)日: 2017-06-27
发明(设计)人: 卢斌先;杨颖 申请(专利权)人: 华北电力大学
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12;G01R29/12
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司11246 代理人: 张文宝
地址: 102206 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了属于导体表面电场测量技术领域的一种GIS设备低压导体表面电场强度测量方法。电场强度测量装置结构为GIS设备外壳通过短支架固定在底座上,高压导体通过底座上的长支架支撑在GIS设备外壳中心,在外壳的中间切割一楔块,并用绝缘材料支撑在原位;楔块连接10千欧的电阻,并电阻接地,电阻两端连接放大电路;放大电路与显示器连接;电场强度测量为在高压导体上加交流220kV的高压电,电阻两端的电压信号通过电缆输入到放大电路,在显示器上显示电场强度的读数。本发明通过对GIS设备内部缺陷的电场计算和分析,并通过试验验证,对于提高GIS内部绝缘强度和研究GIS设备内部缺陷与电场强度的关系,具有重要的意义。
搜索关键词: gis 设备 低压 导体 表面 电场 强度 测量 装置 方法
【主权项】:
一种GIS设备低压导体表面电场强度测量装置,其特征在于,电场强度测量装置结构为GIS设备外壳通过短支架固定在底座上,高压导体通过底座上长支架支撑在GIS设备外壳中心,在外壳的中间切割0.8m2的楔块,对楔块边缘进行绝缘处理后用绝缘材料支撑在原位;从楔块引出导线连接10千欧的电阻,并电阻接地,电阻两端通过电缆连接放大电路;放大电路与显示器连接。
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