[发明专利]用于确定磁共振设备的磁场的均匀性的偏差的方法在审
| 申请号： | 201710178985.0 | 申请日： | 2017-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN107229026A | 公开（公告）日： | 2017-10-03 |
| 发明（设计）人： | S.比伯 | 申请（专利权）人： | 西门子保健有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R33/58 | 分类号： | G01R33/58;G01R33/565;G01R33/3873 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 张建锋 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定磁共振设备(11)的磁场在由第一轴线定义的第一方向上的均匀性的偏差的方法，所述方法借助至少两个检测容器(40)实施，所述检测容器(40)布置在垂直于第一方向的检测平面上，所述方法包括以下方法步骤将检测平面定位在第一轴线的第一地点(91)上；获取由所述检测容器(40)在它们的第一位置上感应的第一测量数据(301)；将检测平面定位在第一轴线的第二地点(92)上；获取由所述检测容器(40)在它们的第二位置上感应的第二测量数据(302)，至少基于第一和第二测量数据(301、302)确定磁场的均匀性的偏差。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 磁共振 设备 磁场 均匀 偏差 方法 | ||
【主权项】：
一种用于确定磁共振设备(11)的磁场在由第一轴线定义的第一方向上的均匀性的偏差的方法，所述方法借助至少两个检测容器(40)实施，所述检测容器(40)布置在垂直于第一方向的检测平面上，所述方法包括以下方法步骤：‑将检测平面定位在第一轴线的第一地点(91)上，其中，第一检测容器布置在第一检测容器的第一位置上，并且第二检测容器布置在第二检测容器的第一位置上，‑获取由所述检测容器(40)在它们的第一位置上感应的第一测量数据(301)，‑将检测平面定位在第一轴线的第二地点(92)上，所述第一轴线的第二地点(92)不同于在第一轴线的坐标中的第一地点(91)，其中，第一检测容器布置在第一检测容器的第二位置上，并且第二检测容器布置在第二检测容器的第二位置上，‑获取由所述检测容器(40)在它们的第二位置上感应的第二测量数据(302)，‑至少基于所述第一和第二测量数据(301、302)确定磁场的均匀性的偏差。
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