[发明专利]大直径密封圈内外径精密测量仪及测量方法

摘要

本发明公开了一种大直径密封圈内外径精密测量仪及测量方法。仪器包括测量平台、升降臂、摆动臂、磁致伸缩传感器、激光位移传感器和数据采集装置；升降臂一端装在支架上，升降臂的另一端与摆动臂的一端活动连接；升降臂可上下升降,摆动臂可旋转摆动；磁致伸缩传感器包括一磁致伸缩游标测杆；磁致伸缩游标测杆装在摆动臂上；磁致伸缩游标测杆上有两个游标，每个游标上部有一个磁环；每个游标下端有一个激光位移传感器；激光位移传感器、磁致伸缩传感器均与数据采集装置连接。本发明的密封圈内外径测量仪及测量方法，测量精度高,测量效率高，成本低，测量方便，可适应因人工放置引起的偏心问题。该仪器适用于其它圆圈形零件的内外径精密测量。

主权项

一种大直径密封圈内外径精密测量仪，其特征在于，它包括测量平台、升降臂、摆动臂、磁致伸缩传感器、激光位移传感器和数据采集装置；升降臂一端安装在支架上，升降臂的另一端与摆动臂的一端活动连接；升降臂可上下升降,摆动臂可旋转摆动；磁致伸缩传感器包括一磁致伸缩游标测杆；磁致伸缩游标测杆安装在摆动臂上；磁致伸缩游标测杆上套有两个游标，每个游标上部设有一个磁环；每个游标下端设有一个激光位移传感器；激光位移传感器、磁致伸缩传感器均与数据采集装置连接。