[发明专利]一种视觉测量镜面反射光干扰抑制方法在审

专利信息
申请号: 201710179701.X 申请日: 2017-03-23
公开(公告)号: CN107576263A 公开(公告)日: 2018-01-12
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 四川精视科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01C11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开一种视觉测量镜面反射光干扰抑制方法,该方法不同于现有方法利用人工标记点表面反射光成像,而是利用人工标记点在特定光源下的激发辐射光成像,并通过光路选通方法,截断镜面反射光,只接受人工标记点受激辐射光,从而消除镜面反射光引起的炫光干扰问题,提升视觉测量系统鲁棒性,避免炫光干扰导致无法测量或引起错误测量结果的问题。
搜索关键词: 一种 视觉 测量 反射光 干扰 抑制 方法
【主权项】:
一种视觉测量镜面反射光干扰抑制方法,其特征是:采用紫外或紫色光源(10)用于照明,光源(10)的波长为a1,取值范围为200~400nm;在被测对象(2)表面,采用荧光材料(8)制作荧光人工标记点(9),荧光人工标记点(9)表面荧光材料(8)在光源(10)发射光线(11)激发下向外辐射荧光(12),荧光(12)波长为a2,取值范围为400~1000nm,a2>a1;根据光源(10)发射光线(11)波长a1和荧光(12)波长a2,采用通过波长为a2的窄带滤光片作为第一滤光片(14),将第一滤光片(14)置于摄像机(4)前端,第一滤光片(14)截断光源(10)发射光线(11)在被测对象(2)表面的镜面反射光(13)、通过荧光人工标记点(9)在光源(10)发射光线(11)激发下辐射的荧光(12),使摄像机(4)只对荧光人工标记点(9)表面辐射的荧光(12)成像,不对被测对象(2)表面的镜面反射光(13)成像,消除镜面反射炫光;当采用的光源(10)发射光线(11)中存在其他颜色光,即波长范围超出200~400nm时,在光源(10)前端设置通过波长为a1的窄带滤光片作为第二滤光片(15),消除光源(10)发射光线(11)中的其他颜色光作为照明光线(16),以减少由照明光线(16)产生的镜面反射光(13)与荧光人工标记点(9)辐射荧光(12)的波长重叠范围,提升镜面反射光干扰抑制效果。
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