[发明专利]一种沟槽栅金属氧化物场效应晶体管及其制造方法在审
申请号: | 201710179875.6 | 申请日: | 2017-03-23 |
公开(公告)号: | CN106876470A | 公开(公告)日: | 2017-06-20 |
发明(设计)人: | 张振中;孙军;和巍巍;汪之涵;颜剑 | 申请(专利权)人: | 深圳基本半导体有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/423;H01L29/06;H01L21/336 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明的一种沟槽栅金属氧化物场效应晶体管,包括正面、背面金属电极,N型单晶衬底,N型外延层,第一P型掺杂区,在N型外延层和第一P型掺杂区的中央部分设有垂直沟槽,在沟槽中的栅极侧壁与第一P型掺杂区之间为第一介质层,栅极底部与外延层之间为第二介质层,在第一P型掺杂区上靠近沟槽两侧设有第一N型掺杂区,远离沟槽两侧还设有第二P型掺杂区,外延层内部还设有与第二介质层下方相接触的第三P型掺杂区和第二N型掺杂区,使第三P型掺杂区和第二N型掺杂区相互交错间隔,在长度方向和厚度方向形成多个PN结单元。本发明可降低沟槽栅SiC MOSFET的栅极和漏极之间的寄生电容,降低沟槽底部电场强度和抑制寄生BJT的开启。 | ||
搜索关键词: | 一种 沟槽 金属 氧化物 场效应 晶体管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种沟槽栅金属氧化物场效应晶体管,包括:正面金属电极,背面金属电极,在所述背面金属电极上的N型单晶衬底,在所述N型单晶衬底上形成的N型外延层,在所述N型外延层上形成的第一P型掺杂区,在所述N型外延层和所述第一P型掺杂区的中央部分设有垂直的沟槽,在所述沟槽中设有栅极,所述栅极的深度比所述第一P型掺杂区的结深更深,所述栅极侧壁与所述第一P型掺杂区之间为第一介质层,所述栅极底部与所述外延层之间为第二介质层,所述第二介质层厚度大于所述第一介质层厚度,在所述第一P型掺杂区上靠近所述沟槽两侧设有第一N型掺杂区,远离所述沟槽两侧还设有第二P型掺杂区,所述第一N型掺杂区和所述第二P型掺杂区分别与所述正面金属电极相连接,所述外延层内部还设有与所述第二介质层下方相接触的第三P型掺杂区和第二N型掺杂区,使所述第三P型掺杂区和所述第二N型掺杂区相互交错间隔,在长度方向和厚度方向形成多个PN结单元。
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