[发明专利]一种沟槽栅金属氧化物场效应晶体管及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201710179875.6 申请日: 2017-03-23
公开(公告)号: CN106876470A 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: 张振中;孙军;和巍巍;汪之涵;颜剑 申请(专利权)人: 深圳基本半导体有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司44223 代理人: 江耀纯
地址: 518000 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明的一种沟槽栅金属氧化物场效应晶体管,包括正面、背面金属电极,N型单晶衬底,N型外延层,第一P型掺杂区,在N型外延层和第一P型掺杂区的中央部分设有垂直沟槽,在沟槽中的栅极侧壁与第一P型掺杂区之间为第一介质层,栅极底部与外延层之间为第二介质层,在第一P型掺杂区上靠近沟槽两侧设有第一N型掺杂区,远离沟槽两侧还设有第二P型掺杂区,外延层内部还设有与第二介质层下方相接触的第三P型掺杂区和第二N型掺杂区,使第三P型掺杂区和第二N型掺杂区相互交错间隔,在长度方向和厚度方向形成多个PN结单元。本发明可降低沟槽栅SiC MOSFET的栅极和漏极之间的寄生电容,降低沟槽底部电场强度和抑制寄生BJT的开启。
搜索关键词: 一种 沟槽 金属 氧化物 场效应 晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
一种沟槽栅金属氧化物场效应晶体管,包括:正面金属电极,背面金属电极,在所述背面金属电极上的N型单晶衬底,在所述N型单晶衬底上形成的N型外延层,在所述N型外延层上形成的第一P型掺杂区,在所述N型外延层和所述第一P型掺杂区的中央部分设有垂直的沟槽,在所述沟槽中设有栅极,所述栅极的深度比所述第一P型掺杂区的结深更深,所述栅极侧壁与所述第一P型掺杂区之间为第一介质层,所述栅极底部与所述外延层之间为第二介质层,所述第二介质层厚度大于所述第一介质层厚度,在所述第一P型掺杂区上靠近所述沟槽两侧设有第一N型掺杂区,远离所述沟槽两侧还设有第二P型掺杂区,所述第一N型掺杂区和所述第二P型掺杂区分别与所述正面金属电极相连接,所述外延层内部还设有与所述第二介质层下方相接触的第三P型掺杂区和第二N型掺杂区,使所述第三P型掺杂区和所述第二N型掺杂区相互交错间隔,在长度方向和厚度方向形成多个PN结单元。
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